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JCPDS CARD에서 각 물질을 대표할 수 있는 물질로 선정했다. 또한 JCPDS가 아닌 실제 측정그래프에서 강도의 순서를 고려하여 결정하였다.
결정된 강도선은 각각 다음과 같다.
물질
면지수(hkl)
2θ
d(Å)
1
al2o3
102
25.64
3.46
zno
110
56.66
1.62
2
al2o3
116
57.66
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, crystal structure, lattice parameter, crystallite size등을 알아내는 방법, 원리 등을 PT로 알기쉽게 정리하였습니다. 1. 회절
2. Bragg's Law
3. 격자상수
4. Scherrer's equation
5. lattice strain
6. residual stress
7. Vegard's Law
8. 격자상수와 면간거리
9. JCPDS
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시편의 회절 피크를 통한 구조분석 및 면간 거리 측정----------p.2
3. JCPDS 카드를 이용하여 측정한 박막 시편의 우선방위 및 결정립 크기 측정-----------p.5
4. 모노크로메이터가 없을 경우에 측정시 발생할 수 있는 현상-------p.5
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있는 원소의 종류 및 이것들의 비율에 의존
X선 회절에서 사용하는 X선의 파장은 원자와 이온의 크기와 같은
정도이기 때문에 결정에 의해 회절 Ⅰ. X선 역사
Ⅱ. X선 이론
Ⅲ. X선의 종류
Ⅳ. XRD의 구조와 작동과정
Ⅴ. JCPDS카드
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실험적으로 증명
※ X-선 회절무늬(Diffraction pattern)는 각 결정 물질에
따라 특유하게 다르게 나타난다.
결정물질 구분에 사용됨 실험목적
실험계획
이 론
XRD
JCPDS Card
Scherrer’s formula
실험결과 및 결과분석
CaTiO3
NiFe2O4
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