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있다고 판단되어 면적을 계산하는 것으로 대체하였다. 실제 Peak선이 어떤 정형화된 함수를 가지고 있지 않기 1. 정성분석
2. 격자상수
3. 미소 결정 크기
4. 정량분석
5. 오차분석
6. 결과분석에 사용한 JCPDS
7. 참고문헌
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및 검출기 등이 진공중에 있는 것이 다른 점이다. 전자는 이물질과 충돌하여 쉽게 산란하는 성질이 있어서, 대기중에서는 렌즈로 초점을 SEM / XRD / NMR이란?
Scanning electron microscope이란?
X-Ray Diffractometer이란?
Nuclear Magnetic Resonance이란?
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xrd/xrd.html
2. http://xrd.kaist.ac.kr
3. X-Ray Diffraction A practical Approach , C Suryanarayana and M. Grant Norton 1. XRD 분석을 통해 알 수 있는 것---------------------------p.1
2. 시편의 회절 피크를 통한 구조분석 및 면간 거리 측정----------p.2
3. JCPDS 카드를 이용하
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XRD-Data 상분석 및 분석
⇒각 조성 별로 열분석을 마친 후 조성별로 XRD 성분검사를 통한 각 상에 따른 2-theta, intensity와 각 Peek의 상, 면지수를 확인하여 표기하였다.
여기서 상분석을 할 경우 각 조성이 나타내는 주 Peek가 3~4개 이상의 일치를 보
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XRD 상분석
X선 회절분석기를 통한 상분석을 하였는데, 불순물 또는 표면의 산화에 따른 2-theta에 따른 intensity값은 달라지는 질 수 있게 되지만 그렇지 않고 ICDD Data와 거의 일치한 값을 보였다. 각각의 성형체에 따른 상이 나타내는 intensity값을
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