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실험적으로 증명
※ X-선 회절무늬(Diffraction pattern)는 각 결정 물질에
따라 특유하게 다르게 나타난다.
결정물질 구분에 사용됨 실험목적
실험계획
이 론
XRD
JCPDS Card
Scherrer’s formula
실험결과 및 결과분석
CaTiO3
NiFe2O4
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JCPDS CARD에서 각 물질을 대표할 수 있는 물질로 선정했다. 또한 JCPDS가 아닌 실제 측정그래프에서 강도의 순서를 고려하여 결정하였다.
결정된 강도선은 각각 다음과 같다.
물질
면지수(hkl)
2θ
d(Å)
1
al2o3
102
25.64
3.46
zno
110
56.66
1.62
2
al2o3
116
57.66
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JCPDS Card 상의 GaN data와 근사한 값을 가진다. 하지만 열처리를 통해 GaN epilayer의 결정성의 향상으로 XRD pattern이 GaN PDF data에 가까워지더라도, 기판으로 쓰인 sapphire 와의 격자상수 차이 때문에 여전히 적지 않은 결함을 가지고 있어 열처리 후의 X
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JCPDS card)과 대조해서 물질을 구별할 수 있다.
④ 결정의 면 간격을 정확히 측정하는 일이 가능하다.
⑤ 결정성 조사가 가능하다.
⑥ 결정의 배향성을 알 수 있다.
⑦ 회절선의 강도를 측정해서 각 성분의 정량 분석을 할 수 있다.
⑧ 개략적인
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JCPDS card)과 대조해서 물질을 구별할 수 있다.
④ 결정의 면 간격을 정확히 측정하는 일이 가능하다.
⑤ 결정성 조사가 가능하다.
⑥ 결정의 배향성을 알 수 있다.
⑦ 회절선의 강도를 측정해서 각 성분의 정량 분석을 할 수 있다.
⑧ 개략적인
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