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실험 5 보고서
실험목표:
□실험을통하여 OR와 XOR의 진리표 결정.
□펄스 파형을 이용하여 OR와 XOR 논리 게이트 테스트.
□OR와 XOR 게이트를 사용하여 4비트 2진수의 1의 보수 또는 2의 보수를 실행하는 회로 구성.
□모의 실험용 결함에 대한 보
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논리게이트, 대한전자공학회
김주엽 외 1명(2006), 병렬 SOA-MZI 구조들을 이용한 XOR, NOR, OR, 그리고 NAND 기능들을 가진 전광 복합 논리 게이트들, 대한전자공학회
서요한(1986), 논리 게이트의 테스트를 위한 최적 패턴의 산출에 관한 연구, 조선대
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OR, XOR게이트를 만드는 것과 펄스 파형을 이용해 OR, XOR의 논리게이트를 테스트를 하고 이 두 가지 게이트를 이용해서 4비트 2진수의 1의 보수, 2의 보수를 취하는 회로를 구성하고 결함이 발생하였을 때에 회로의 고장을 진단하는가를 봤다. 일
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게이트와 7486 quad 2-입력 XOR 게이트의 IC 각각에는 4개의 게이트들이 포함되어 있다. Vcc 와 접지를 해당 핀에 연결한 후, 가능한 모든 입력의 조합을 연결하여 7432의 OR 게이트와 7486의 XOR 게이트를 각각 하나씩을 테스트한다. 논리 1은 1K 의 직렬
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XOR 게이트의 연결 다이어그램을 찾아 보라. 이들 IC 각각에는 4개의 게이트들이 포함되어 있다. 와 접지를 해당 핀에 연결하라. 보고서의 표 5-2에 주어진 대로 가능한 모든 입력의 조합을 연결하여 7432의 OR 게이트 하나를 테스트하라. 논리 1은
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