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투과전자현미경 측정법(transmission electron microscopy)과 훑기 꿰뚫기 현미경 측정법 (scanning tunneling microscopy ; STM) 과 같은 방법으로 위에서 논의한 결정구조들을 관찰할 수 있다. 이 6원자배열구조의 직젖적인 영상화에서는 이와같은 장비들에 대
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현미경사진
※ Fe-0.2wt%Carbon lath Martensite의 투과전자현미경 사진.
dislocation → 소성변형을 시키면 dislocation 증식이
일어난다.
→ 강도 증진.
▣ 강도 증진의 원인.
① Quenching시의 lattice dislocation이 일어나면서 소성변형이 일어나고 dislocation 증식
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전자현미경 제작 회사인 일본의 제올(JEOL)社와 공동으로 개발하기로 하였다.
□ 김기범교수 연구팀에 의하여 AIPEL (Atomic Image Projection Electron-beam Lithography)로 명명된 이 전자빔 리소그래피 기술은 고분해능 투과전자현미경을 이용하여 옹스트
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전자현미경 사진.
(b) 탄소나노튜브가 구리(Cu)기지내에 분산된 탄소나노튜브/구리 나노복합재료의 내부 탄소나노튜브의 분산상태를 보여주는 투과전자현미경
그림 4. (a) 분자수준 합성공정을 이용하여 제조된 실린더모양의 탄소나노튜브/구
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전자현미경 사진.
(b) 탄소나노튜브가 구리(Cu)기지내에 분산된 탄소나노튜브/구리 나노복합재료의 내부 탄소나노튜브의 분산상태를 보여주는 투과전자현미경
그림 4. (a) 분자수준 합성공정을 이용하여 제조된 실린더모양의 탄소나노튜브/구
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투과 전자 현미경 사진들이 아마도 금속내의 전위의 이동에 대해 잘못된 인상을 줄지도 모른다. McLean은 전위와 제2상 입자, 전위와 전위 사이의 탄성적인 상호작용의 상황을 도식적으로 나타냈다. 수 퍼센트 정도 소성변형된 금속은 1㎤ 당 50,
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전자(Secondary Electron, 이하 SE) 혹은 후방산란전자(Back Scattered Electron, 이하 BSE)를 이용하여 시료의 표면을 관찰하는 장비이다.
주사전자현미경 SEM
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◎ 원 리
투과형과 같이 시료전체에
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1. SEM이란?
Scanning Electron Microscope
1.1. SEM의 개발
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1931년 독일
Max Knoll & Ernst Ruska, 최초 전자현미경(TEM) 발명
1938년 M.V.Ardennes, 최초 주사전자현미경 개발(STEM)
1962년
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전자현미경은 대물렌즈로 주사전자광선(scanning electron beam)을 아주 작게 수렴시켜 표본의 표면에 초점을 맞추는 일이 중요하다. 높은 분해능을 원한다면 전자렌즈(대물렌즈)를 투과한 전자를 가능하면 표본의 표면에 근접시키고 편향코일로
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전자현미경은 대물렌즈로 주사전자광선(scanning electron beam)을 아주 작게 수렴시켜 표본의 표면에 초점을 맞추는 일이 중요하다. 높은 분해능을 원한다면 대물렌즈를 투과한 전자를 가능하면 표본의 표면에 근접시키고 수렴된 전자를 가능한
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