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microscope, 位相差顯微鏡] 암시야현미경 [dark-field microscope, 暗視野顯微鏡] 투과전자현미경 [transmission electron microscope, 透過電子顯微鏡], 980-1100 1991-2020
김성호, 2005.2.25., 식품위생 미 생물학적 실험편, 172
금동화, 2006.12.20 , 나노과학 기술이 우리의
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microscope)
ㅂ. 암시야현미경 (dark-field microscope)
(2) 전자현미경 (EM,Electron Microscope)
ㄱ. 주사형 전자 현미경 (SEM, scanning electron microscope)
ㄴ. 투과형 전자현미경 (TEM, transmission electron microscope)
(3) 원자현미경 (A
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Transmission Electron Microscope: 투과 전자 현미경)
<TEM의 구조>
광학현미경의 광원 대신에 광원과 유사한 성질을 지닌 전자선과 렌즈 대신에 전자 렌즈를 사용한 현미경으로서 결상(상맺힘)의 기본원리는 같다. 전자선은 광선과 비교하면 물질
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Electron microscope(EM)
• SEM (scanning electron microscope)
• FESEM (field emission scanning electron microscope)
• TEM (transmission electron microscope)
• HRTEM (high resolution transmission electron microscope)
Scanning probe microscope(SPM)
• STM(scanning tun
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Transmission Electron Microscope)
투과전자현미경은 광학현미경의 원리와 기본적으로 같지만 빛(light)대신 전자선(electron beam)을 사용하고 유리렌즈 대신에 철심과 구리코일(coil)로 만든 원통형의 전자렌즈(magnetic lens)를 사용한다. 전자 발생을 위해서
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