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X-선의 조사시간을 변화시키고 노출하는 시간SCALE법이 있다.
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목 차
1. X-선 필름의 감도 측정법
2. 감도측정법의 이용
3. 감도측정법의 과정
4. 특성곡선
5. 감도
6. 관전압과 특성곡선의 이해
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X-선 형광이란
(2) XRF의 이용
(3) XRF의 종류
(4) 측정 방법
8. ICP-MS (Inductively Coupled Plasma)
(1) ICP-MS란?
(2) 구성장치
(3) 기존 장비와의 비교
9. AAS (atomic absorption spectroscopy)
(1) AAS원리
(2) AAS의 구성
(3) 감도 및 검출 한계
(4) 적용범위
(5) 분석
조성측정방법 TGA, XRD DTA, 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS),
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좋다.
증감지나 X-선 장치의 출력차이에 따른 영향을 받지 않는다.
노출량의 측정이 가능, 절대치를 평가할 수 있다. * 실험제목
* 실험순서
* 실험 준비물
* 완성된 농도표
* 특성곡선
* 실험 후 작성한 특성곡선의 특성값
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특성과 직류 전원 연결 시 인덕터의 특성을 이해 할 수 있었다.
실험 중에 값 측정이 잘 되지 않는 부분이 있어서 약간의 아쉬움이 남긴 하였다. 하지만 다른 부분에 측정된 값을 이용하여 그것을 통해 계산을 하여서 계산결과를 얻을 수 있었
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측정계산.
④ 각각의 관에서 그 공이 떨어지는 시간을 측정해서 침강계수의 값을 구한다.
⑤ 여기서 우리는 와 레이놀드 수와의 관계, 레이놀드 수와 유속의 관계를 알아보자.
2. 건조속도 실험
① 건조시료를 성형하고, 성형시죠 1. 실험일
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