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제어가 가능하면 좋다. 각도 및 강도의 정밀측정을 하기 위해서는 항온 실이 필요하다.
4) 장치의 설명서를 충분히 읽고 사용한다. XRD(X선 회절 분석, X-Ray Diffactometer)
1. 분석 원리
2. XRD 구성
3. 적용 범위
4. XRD의 특징
5. 주의 할 점
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XRD 시스템
1. XRD 구성
1) X-ray 발생장치(X-ray Generator)
2). Goniometer
3) 계수기록장치(Electronic Circuit Panel)
4)Filter
(2)시편의 종류에 따른 분석 방법
1. θ-2θ 축으로 주사
1) 다결정 시편
분말시료와 같은 다결정 시편은 시편 표면에 평행한 결정
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XRD (X-ray Diffraction)
(1)X-ray 기본원리
1. X-ray란?
2. X-ray의 발생
3. 분석에 이용하는 X-ray는?
(2)Bragg’s Law
1. X-선 회절의 조건은?
2. Direction of Diffracted Beam
(3)XRD 시스템
1. XRD 구성
1) X-ray 발생장치(X-ray Generator)
2). Goniometer
3) 계수기록장치(Electro
조성측정방법 TGA, XRD DTA, 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS),
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(3)XRD 시스템
1. XRD 구성
1) X-ray 발생장치(X-ray Generator)
2). Goniometer
3) 계수기록장치(Electronic Circuit Panel)
4)Filter
(4)XRD 실험방법
1. 분말X선회절법에 의한 동정법의 특징
2. X선에 의한 동정법의 한계
3. ICDD card
4. 색인서(Index book)
Referece
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XRD)
X선 회절 분석기 구성
고니오메타(Goniometer)
3. 실험재료 및 장치:
4. 실험결과
<경도측정>
<XRD 회절 데이터>
5. 토의 및 고찰
6. 참고문헌 1. 실험목적
2. 실험방법
1) 실험 시편의 준비
2) 시편 용융
3) 주조 및 절단
4) 용체화 처
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