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(3)XRD 시스템
1. XRD 구성
1) X-ray 발생장치(X-ray Generator)
2). Goniometer
3) 계수기록장치(Electronic Circuit Panel)
4)Filter
(4)XRD 실험방법
1. 분말X선회절법에 의한 동정법의 특징
2. X선에 의한 동정법의 한계
3. ICDD card
4. 색인서(Index book)
Referece
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방법
8. ICP-MS (Inductively Coupled Plasma)
(1) ICP-MS란?
(2) 구성장치
(3) 기존 장비와의 비교
9. AAS (atomic absorption spectroscopy)
(1) AAS원리
(2) AAS의 구성
(3) 감도 및 검출 한계
(4) 적용범위
(5) 분석방법
10. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
(1) 기본원리
조성측정방법 TGA, XRD DTA, 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS),
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축으로 주사
3. θ축으로 주사
4. θ-θ축으로 주사
(3) 시료의 충진
1. 알루미늄 시료판
2. 유리 시료판
3. 무반사 시료판
(4)XRD 실험방법
1. 분말X선회절법에 의한 동정법의 특징
2. X선에 의한 동정법의 한계
3. ICDD card
4. 색인서(Index book)
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대한 정확한 이해를 이끌어 낼 수 있었다. 또한 XRD분석기기의 사용법과 결과 값 분석에 대한 학습으로 앞으로의 실험에서 많이 쓰일 미지시료 분석을 능숙하게 할 수 있게 되었다. 1.실험목적
2.실험원리
3.실험방법
4.실험결과
5.고찰
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실험중 주의사항
2.이론적배경
-고상법이란?
-액상법이란?
-Ball mill
-하소,성형,소결
-하소와 소결의 차이
-XRD, SEM
-아르키메데스 원리
3.고상합성법
-실험목표
-사용시약/실험기구
-실험방법
-수축율
-물성평가(유전율,XRD,SEM)
4.액
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