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제어가 가능하면 좋다. 각도 및 강도의 정밀측정을 하기 위해서는 항온 실이 필요하다.
4) 장치의 설명서를 충분히 읽고 사용한다. XRD(X선 회절 분석, X-Ray Diffactometer)
1. 분석 원리
2. XRD 구성
3. 적용 범위
4. XRD의 특징
5. 주의 할 점
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XRD 시스템
1. XRD 구성
1) X-ray 발생장치(X-ray Generator)
2). Goniometer
3) 계수기록장치(Electronic Circuit Panel)
4)Filter
(2)시편의 종류에 따른 분석 방법
1. θ-2θ 축으로 주사
1) 다결정 시편
분말시료와 같은 다결정 시편은 시편 표면에 평행한 결정
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XRD (X-ray Diffraction)
(1)X-ray 기본원리
1. X-ray란?
2. X-ray의 발생
3. 분석에 이용하는 X-ray는?
(2)Bragg’s Law
1. X-선 회절의 조건은?
2. Direction of Diffracted Beam
(3)XRD 시스템
1. XRD 구성
1) X-ray 발생장치(X-ray Generator)
2). Goniometer
3) 계수기록장치(Electro
조성측정방법 TGA, XRD DTA, 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS),
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구성되어있으므로, Hexagonal의 부피를 6으로 나누어 주어야 한다.
『그림5』Hexagonal - Rhombohedral 변환
『그림6』 Al2O3 원자 구성
물질
a(Å)
c(Å)
α(도)
ZnO
3.238
5.1872
120°
Al2O3 (Hexagonal)
4.7434
12.968
120°
Al2O3 (Rhombohedral)
3.873
55°
각각의 단위포의 부피를
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및 검출기 등이 진공중에 있는 것이 다른 점이다. 전자는 이물질과 충돌하여 쉽게 산란하는 성질이 있어서, 대기중에서는 렌즈로 초점을 SEM / XRD / NMR이란?
Scanning electron microscope이란?
X-Ray Diffractometer이란?
Nuclear Magnetic Resonance이란?
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