|
경우 (h+l),(h+k),(k+l) 중 2가지는 홀수, 1가지는 짝수이므로 F=0 이 되고 따라서 피크가 존재하지 않으며, unmixed의 경우는 (h+l),(h+k),(k+l) 모두 짝수이므로 F=4fa 가 되고 피크가 존재할 수 있다.
6. 참고문헌
재료결정학, 2013, 이정용, 정문각
|
- 페이지 4페이지
- 가격 9,660원
- 등록일 2013.12.29
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
xrd.pdf
* 이론에서 그래프 첨가
목차
1. 실험목적
2. 실험방법
DIAMOND
실험 장비
1) 실험 시편의 준비
2) 시편 용융
3) 주조 &절단
주물 제조시 주의해야할 점
4) 용체화 처리 & 시효처리
5) 그라인딩 & 경도 측정
6) X선 회절 분석
3. 실험결과
<경도측
|
- 페이지 8페이지
- 가격 1,000원
- 등록일 2003.12.28
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)
X선 회절 분석기 구성
고니오메타(Goniometer)
3. 실험재료 및 장치:
4. 실험결과
<경도측정>
<XRD 회절 데이터>
5. 토의 및 고찰
6. 참고문헌 1. 실험목적
2. 실험방법
1) 실험 시편의 준비
2) 시편 용융
3) 주
|
- 페이지 11페이지
- 가격 1,000원
- 등록일 2003.12.28
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
11) 네이버 블로그 - 연속 X선 및 특성 X선 이미지
http://blog.naver.com/novasky76?Redirect=Log&logNo=110021913131
12) 구글 이미지 - Diffractometer 이미지 1. 실험목적
2. 배경이론
3. 실험방법
4. 예상결과
5. XRD의 활용
6. JCPDS(ICDD) FILE
7. 참고문헌
|
- 페이지 29페이지
- 가격 3,000원
- 등록일 2008.11.17
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
분석에 이용하는 X-ray는?
(2)Bragg’s Law
1. X-선 회절의 조건은?
2. Direction of Diffracted Beam
(3)XRD 시스템
1. XRD 구성
1) X-ray 발생장치(X-ray Generator)
2). Goniometer
3) 계수기록장치(Electronic Circuit Panel)
4)Filter
(4)XRD 실험방법
1. 분말X선회절법에 의한
조성측정방법 TGA, XRD DTA, 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS),
|
- 페이지 31페이지
- 가격 3,000원
- 등록일 2011.01.24
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|