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능하고, 분말시료든지 판상, 액체, 리본, thin film시편에 대해서도 측정 가능하다.
2. 물질의 정성분석 가능.물질의 결정구조와 화합형태가 다르면 회절패턴의 형태가 변화한다. 따라서, 표준물질의 데이터 파일과 대조해서(JCPDS card이용) 물질을
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xrd.html
* http://www.kmac.to/korean/xrd.pdf
* 이론에서 그래프 첨가
목차
1. 실험목적
2. 실험방법
DIAMOND
실험 장비
1) 실험 시편의 준비
2) 시편 용융
3) 주조 &절단
주물 제조시 주의해야할 점
4) 용체화 처리 & 시효처리
5) 그라인딩 & 경도 측정
6) X선 회절
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회절선만 크게 나타나게 된다.
3) 방향성을 갖는 시편
2. 2θ 축으로 주사
3. θ축으로 주사
4. θ-θ축으로 주사
(3) 시료의 충진
1. 알루미늄 시료판
2. 유리 시료판
3. 무반사 시료판
(4)XRD 실험방법
1. 분말X선회절법에 의한 동정법의 특징
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회절의 조건은?
2. Direction of Diffracted Beam
(3)XRD 시스템
1. XRD 구성
1) X-ray 발생장치(X-ray Generator)
2). Goniometer
3) 계수기록장치(Electronic Circuit Panel)
4)Filter
(4)XRD 실험방법
1. 분말X선회절법에 의한 동정법의 특징
2. X선에 의한 동정법의 한계
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회절의 조건은?
2. Direction of Diffracted Beam
(3)XRD 시스템
1. XRD 구성
1) X-ray 발생장치(X-ray Generator)
2). Goniometer
3) 계수기록장치(Electronic Circuit Panel)
4)Filter
(4)XRD 실험방법
1. 분말X선회절법에 의한 동정법의 특징
2. X선에 의한 동정법의 한계
3
조성측정방법 TGA, XRD DTA, 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS),
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