목차
1. 광학현미경(LM, Light Microscope)
-일반광학현미경(light or bright-field microscope)
-위상차현미경(phase contrast microscope)
-간섭현미경(interference microscope)
-암시야현미경(dark-field microscope)
-편광현미경(polarizing microscope
-형광현미경(fluorescece microscope)
2. 전자현미경(EM, Electron Microscope)
3. 원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope)
-일반광학현미경(light or bright-field microscope)
-위상차현미경(phase contrast microscope)
-간섭현미경(interference microscope)
-암시야현미경(dark-field microscope)
-편광현미경(polarizing microscope
-형광현미경(fluorescece microscope)
2. 전자현미경(EM, Electron Microscope)
3. 원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope)
본문내용
발생시키며, 그런 후 센서로 받아들여 검경할 수 있도록 한다. 전체 표본이 scanning된 뒤에 상이 완성된다.
3. 원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope)
원자현미경은 표본의 표면을 캔틸레버라고 불리는 작은 막대가 주사를 하면, 이 때 캔틸레버 끝에 붙어있는 탐침이 시료 표면에 접근하여 탐침 끝의 원자와 시료표면의 원자 사이에 서로의 간격에 따라 끌어당기거나(인력, van der Waals forces, 반데르발스 힘) 밀치는 힘(척력,repulsive force, Coulomb's forces, 쿨롱 힘)이 작용하게 되고, 이 힘에 의해 캔틸레버가 아래위로 휘어지게 되며, 이 휘는 것(정도)을 측정하여 영상을 만들어서 원자단위의 구조를 파악하게 하는 원리를 이용하였다.
3. 원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope)
원자현미경은 표본의 표면을 캔틸레버라고 불리는 작은 막대가 주사를 하면, 이 때 캔틸레버 끝에 붙어있는 탐침이 시료 표면에 접근하여 탐침 끝의 원자와 시료표면의 원자 사이에 서로의 간격에 따라 끌어당기거나(인력, van der Waals forces, 반데르발스 힘) 밀치는 힘(척력,repulsive force, Coulomb's forces, 쿨롱 힘)이 작용하게 되고, 이 힘에 의해 캔틸레버가 아래위로 휘어지게 되며, 이 휘는 것(정도)을 측정하여 영상을 만들어서 원자단위의 구조를 파악하게 하는 원리를 이용하였다.
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