평판배지 분리배양 실험 + 현미경 사용

목차

Title

Purpose

<원리>

4. Materials

5. Methods

<평판배지 획선 배양>

<사면배양법>

<액체배지 배양>

<혼합분주법>

Result

1. 평판배지 획선 배양

<사면배지 배양>

Discussion

(1) 현미경의 종류와 원리

본문내용

·금속학 등의 넓은 분야에 걸쳐 있으며 생물학에의 이용 발전도 기대되고 있다.
편광현미경(polarization microscope,偏光顯微鏡)
편광현미경은 두 개의 편광프리즘(또는 니콜프리즘)을 이용한 것인데, 자연광에는 여러 진동방향이 섞여있으나 편광프리즘을 이용하여 특정한 파장만 통과시키는 두 개의 필터(프리즘)가 광선 경로에 서로 90도 각도를 이루어 앞뒤로 나란히 있을 때 어떤 빛도 투과되지 않는 원리를 이용하였다. 두 번째 필터가 그 선택을 바로 통과시킬 수 없을 정도로 첫 번째 필터가 진동 방향을 선택한다. 그 두 번째 필터를 "분해기(analyzer)"라고 일컫는데 왜냐하면 그것으로 첫 번째 필터 - "편광기(polarizer)"로 불림 -에서 여과된 방향을 점검할 수 있기 때문이다.
광선경로(빛의 이동통로)에는 소위 보조 물체(auxiliary object), 또는램더(λ:Lambda)양극판)이라는 것이 들어 있는데, 이 램더 판은 편광에서 대조(contrast)를 색깔로 전환시킨다. 보조 물체의 두 번 굴절하는 물질에서 나타나는 편광의 통과 과정에서의 차이가 이 목적을 위해 사용된다. 그 통과 과정의 차이가 빛에서 어떤 특정한 파장들을 소멸시키게 한다. 그렇게하여 백색광으로부터 단지 특정한 색깔들만 남게되어 아름답고 화려한 색깔의 그림들을 만들어내게 된다
주사전자현미경(SEM)
원리
[원리]SEM 이란 10-3Pa이상의 진공중에 놓여진 시료표면을 1-100nm정도의 미세한
전자선으로 x-y의 이차원방향으로 주사하여 시료표면에서 발생하는 2차전자, 반사전자,
투과전자, 가시광, 적외선, X선, 내부기전력등의 신호를 검출하여 음극선관(브라운관) 화
면상에 확대화상을 표시하거나 기록하여시료의 형태, 미세구조의 관찰이나 구성원소의 분
포, 정성, 정량등의 분석을 행하는 장치이다.금속등의 도체, IC, 산화물등의 반도체, 고분자
재료나 세라믹등의 절연물의 고체, 분말, 박막시료가 될수 있다. 주로 2차전자가 시료의
형태관찰, 반사전자나 X선이 성분분석에 사용된다.SEM의 원리구성예는 윗그림에 표시하였
음. 전자선은 전자총부의 원통내의 음극(Filament) 를 가열하여발생한 전자가 양극으로 가속 되어진다. 통상, 0.5~30kV로 가속되어진 전자선은 집속 렌즈와 대물렌즈의 전자 렌즈의 작용으로 최종적으로 3~100nm의 직경까지 미세해지며 시료표면에 조사 된다. 이렇게 미세해진 전자선을 전자 probe라고 부른다. 전자probe는 주사 코일에 의해 전자표면상의 X와 Y의 2차원방향으로(통상의 Television) 새롭게 설정된 면적을 주사 시킨다. 전자 probe의 주사와동기된 브라운관 화면상에 시료로 부터 발생한 신호를 각각의 신호로 변환시킨 검출기에서 검출, 증폭하여영상으로 보여준다. 브라운관화상은 전자 probe의 주사면적을 작게 할수록 확대 되어진다. 이 화상을 사진으로 촬영하거나 비디오 printer로 기억하게 된다. 전자 probe를 주사 하지 않고 시료상의한점에 고정하여 얻어지는 X선을 사용하여 조사점의 원소분석이 가능하다.
윗그림의 열전자총대신에 Field Emmission(FE) 전자총을 장착한 FE-SEM은 1.5nm이하의 고분해능으로 고화질의 화상을 얻을수 있기 때문에 형상관찰에 폭넓게 이용되고 있다. [특징]SEM은 광학현미경과 비교하여 얻을수 있는 화상의 초점심도가 2배이상 깊으며, 동시에2배이상의 높은 분해능(FE-SEM에서는 최대 0.6nm)를 얻을수 있다. 주로 사용되어지는 2차전자상은 광학현미경보다도 고배율(1000x이상)으로서 입체감이 있는 화상이므로 상의 해석을 본 그대로 판단할수 있다. 2차전자검출기와 반사전자 또는 X선 검출기를 장착하여 공시에 여러 종류의 정보를 얻을 수 있다. 또, 특수하게 만들어진 1대 또는 2대의 2차전자 검출기, 혹은 반사전자검출기로 얻은 신호를 PC 처리하여시료의 깊이방항을 포함한 3차원 정보를 얻을수 있다. [용도]금속, 광물, 무기물, 세라믹, 시멘트, 유리, 프라스틱, 고무, 석유, 도료, 의생물, 반도체 IC, 집적회로,전자부품등의 형태관찰, 혹은 품질관리에 2차전자상, 원소분석에 반사전자상이나 X선화상으로 응용이가능하다.
http://www.microscope.wo.to
미생물학실험. 방병호외 7명. 진로연구사. 2005년. 53~55
미생물학실험. 김영권외 11명. 고려의학. 2001년. 139~144
최신미생물학실험. 박석기외 5명. 신광문화사. 2000년. 37~48

키워드

평판배양,   현미경 종류,   미생물 분리