SEM&TEM - 주사전자현미경 & 투과전자현미경

소개글

SEM&TEM - 주사전자현미경 & 투과전자현미경에 대한 보고서 자료입니다.

목차

□ 실험목적
□ 실험원리
● 광학현미경(LM, Light Microscope)
● 전자현미경 (EM, Electron Microscope)
● 원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope)
● 전자현미경의 발전역사
● 기본 원리
● TEM과 SEM의 원리
● 주사전자현미경(SEM)
● 주사전자현미경(SEM)의 구성
● SEM의 분해능(resolution)
● SEM의 영상의 종류
● SEM의 배율과 초점심도
● 전자빔과 시편과의 상호작용
● 투과전자현미경(Transmision Electron Microscopy)
● 광학현미경과 전자현미경의 illumination system의 비교
● 명시야상 (Bright-Field Image)
● 암시야상 (Dark-Field Image)
● 회절패턴 (Diffraction pattern)
● 시편 제작 방법
□ 참고 문헌

본문내용

키워드

SEM,   TEM,   Scanning Electron MIcroscopy,   Transmission Electron Microscopy,   주사전자현미경,   투과전자현미경