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400Å이하로 매우 작으며 3차원적인 정보를 얻을 수 있다. AFM의 화상과 tip과의 관계에 대한 연구는 다수 있다. AFM에 의한 거침도의 측정시 tip의 모양에 따른 체계적인 연구가 Westra와 Thomson에 의해보고 되었다. 그들은 tip 말단의 반경과 표면 거
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AFM,Atomic Force Microscope)
✔ 구조와 기능
가. 광학현미경
나. 전자현미경
1) 주사전자 현미경(SEM)
1. 전자총(Electron Gun)
2. 자기렌즈(Condensing&Objective Lens)
3. 진공 챔버(Vaccum Chamber)
4. 시편 홀더(Sample Stag
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광원 대신에 광원과 유사한 성질을 지닌 전자선과 렌즈 대신에 전자 렌즈를 사용한 현미경으로서 결상(상맺힘)의 기본원리는 같다. 전자선은 광선과 비교하면 물질과의 상호작용이 현저하게 크기 때문에 시료는 아주 앎아야 하며 진공중에
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AFM (원자현미경)
Atomic Force Microscope. STM은 부도체의 물질은 측정이 불가능한데, 이를 보강한 것이 AFM이다.(원자간의 힘은 전기적 성질과 관계없기 때문) 원자간의 간격이 가까우면 척력이, 멀면 인력이 작용하게 되는데, 이를 이용하여 시료를
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AFM)은 뾰족한 탐침을 시료 표변에 이동시킬 때 탐침의 끝과 표면의 거리를 일정하게 유지한다. AFM에서는 탐침의 끝에 표면과의 거리는 일정하게 유지하되 표면을 상하게 하지 않을 정도의 아주 약한힘을 가한다. 탐침은 아주 약한 힘에도 쉽
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