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Atomic Force Microscope)
● STM과 AFM
● AFM을 이용한 고분자 연구
● 차원 및 배율
● 압전 세라믹 트랜스듀서
● 힘 센서(Force Sensors)
● 피드백 제어
● AFM의 원리
● Contact AFM
● Non-contact AFM
● 원자현미경으로 이미지의 측정
● 원
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Microscopy) : PILETA, 보유장비,
http://www.pileta.co.kr/%EB%B3%B4%EC%9C%A0%EC%9E%A5%EB%B9%84/2191406
[3] Fig.6 Sputter 장비 : HITACHI, Ion Sputter MC1000
https://www.hitachi-hightech.com/kr/product_detail/?pn=em-mc1000&version=ko
[4] Fig.7 원자력현미경(AFM, Atomic Force Microscopy) : ELIM Global, 제
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가시광선을 사용하는 보통의 광학현미경보다 해상력(解像力)이 좋다. 자외선은 눈에 보이지 않으므로, 상의 관찰은 사진촬영에 의존하였으나, 오늘날은 형광판(螢光板)을 사용하여 상을 직접 볼 수 있게 개량되어 있다. 자외선의 광원으로서
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Atomic Force Microscope)
4. 현미경의 구조
1) 렌즈
2) 조절 나사
3) 경통
4) 회전판
5) 재물대
6) 조리개
7) 반사경
8) 손잡이
5. 현미경의 사용방법
1) 사용방법
2) 실험 후 고찰방법
6. 현미경의 배율
1) 접안렌즈 배율 * 대물렌즈 배율
2) 저배율
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Atomic Force Microscope)
*주사전자현미경*
1. 현미경의 조직검사
2. 시료의 준비
3. 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)
4. 주사전자현미경의 개요
5. 주사전자현미경의 역사
6.주사전자현미경의 원리
7. SEM의 기본적 구조 및 기능
8. 주사
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