|
원리에 대해서 설명하시오.
2. 관찰시 어떤 sample은 charging 현상이 일어난다. 이러한 현상이 일어나는 이유는 무엇이고, 문제점을 해결하기 위해선 어떤 조치를 취할수 있는가?
3. OM과 SEM의 image를 보고 차이점을 말하고 그 이유를 설명하시
|
|
|
원리 ……………… 11쪽
<그림 15> 주석(Sn)의 XRD 회절 peak ……………… 12쪽
1.2 표 목록
<표 01> 밀도 계산을 위한 시편의 측정값……………… 06쪽
<표 02> 각 시편의 계산값……………… 06쪽
<표 03> 비커스 경도의 계산식……………… 0
|
|
|
송 건 1) 실험목적
2) 실험개요
3) 실험순서 및 실험원리
1.성형
2.열처리(소결)
3.경도측정
4.폴리싱(Polishing)
5.에칭(Etching)
6.OM(광학현미경)
7.XRD
4) 실험결과
1.밀도
2.경도
3.OM관찰
4.XRD
5) 고찰
|
|
|
OM을 관찰하여 소결 온도가 높을수록 결정립이 커진다는 것을 배울 수 있었다. 밀도의 경우는 우리의 예상과 달리오히려 낮아지는 결과를 얻었다. 시편 두께 측정시 두께가 증가했는데 그 이유를 생각해보니 소결 후 시편의 양 끝이 오돌토돌
|
|
|
원리 및 과정
1) 성형
2) 열처리
3) 폴리싱
4) 경도측정
5) 에칭(Etching)
6) OM관측
7) XRD
3. 예상 및 실험 결과
1) 경도
2) OM
3) 밀도
4. 고찰
1) 소결 후 밀도변화, 소결온도와 결정립 사이의 관계
2) 경도
3) OM
|
|
메뉴펼치기
