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보면 비슷하게 나온 것을 알 수 있다. I_{ B } 의 값에 따라 I_{ C } 의 값도 같이 커지게 된다. 그리고 I_{ C } 의 값은 어느 일정한 전압 이상에서는 일정한 전류를 흐르게 된다는 것을 알았다. 1. 실험방법 2. 실험결과 3. 결과고찰
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  • 등록일 2004.03.29
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28.6% 까지 나오게 되었다. 소자의 특성과, 측정 장비, 전원공급장치 등 너무 많은 오차 원인이 있을 수 있다. 트랜지스터의 이미터 바이어스를 알게 해준 실험이었다. ○ 실험 목적과 목표 ○ 회로도 ○ 실험 10의 데이터 ○ 결과 및 결론
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  • 등록일 2012.04.17
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실험은 다양한 전압과 JFET에 흐르는 전류 사이의 관계를 확립할 것이다. 이 관계의 성질은 JFET의 적용 범위를 결정한다. 1. 실험 목적 2. 실험 장비 3. 이론 개요 4. 실험 순서 (1) 포화전류 Idss와 핀치오프 전압 측정 (2) 출력 특성 (3)
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  • 등록일 2011.06.27
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컬렉터 피드백 바이어스 등이 그것이다. 고정 bias 회로 설계 *계산 방법 3. 실 험 트랜지스터는 1959트랜지스터를 사용하였다. *설계 1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. TR에서 1)은 이미터 2는 베이스 3은 컬렉터 1.번 실험 VBE,VCE를 측정하라 ( DCV) VBE = 0.64V VCE = 3.71V 2
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  • 등록일 2014.01.15
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특성곡선 (IB = 100uA) ※ VCE 대 IC 특성곡선 (IB = 150uA) ※ VCE 대 IC 특성곡선 (IB = 200uA) ※ VCE 대 IC 특성곡선 (IB = 250uA) ※ VCE 대 IC 특성곡선 (IB = 300uA) ※ 실험 결과 설명 - IB가 각각 100, 150, 200, 250, 300이 되도록 VBB를 조정하였다. 위 사진은 그때의 각
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P형인 콜렉터로 흘러 외부 전원의 (-)극으로 들어간다. 에미터-콜렉터간은 직렬로 된 EB간 전압과 CB간 전압에 의해 연결된다. 실험일자 실험제목 실험목적 관련이론 실험기기 및 부품 실험방법 실험결과 토의 참고문헌
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  • 등록일 2008.11.27
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실험 결과 및 고찰 트랜지스터에 대해 이해하고 증폭작용과 스위칭 작용에 대해 알아보는 실험이었다. Function Generator를 사용하는 과정에서 Function Generator의 사용 방법을 확실하게 숙지하지 못하여 실험 진행에 차질이 있었다. Function Generator
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  • 등록일 2014.01.15
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결과적으로 이 회로의 구조가 변수 변화에 덜 민감한 것이다. 컬렉터 귀환 회로에서의 이론적 전압 해석은 V_CC-(I_C+I_B ) R_C-I_B R_B-V_BE=0 이고 식 I_C=βI_B 식을 통해 정리하면 쉽게 전류를 구할 수 있다. 실험에 관련된 이론 1 실험회로 및 시
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결과 ※ 그림 8-2의 시뮬레이션 결과 ※ 그림 8-4의 시뮬레이션 결과 ※ 그림 8-6의 시뮬레이션 결과 5. 데이터 시트 ※이번에 사용한 소자는 트랜지스터 2N3904입니다. 6. 실제 실험 결과 ① P. 62 그림 8-2의 회로 실험 결과 파라미터 계산값 측정값
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회로를 구성할 수 있는가 답하고 그 이유를 논하라. ① OR : X + Y = (X\'Y\')Z\' ② NAND : (XY)\' = X\' + Y ③ NOR : (X + Y)\' ④ Exclusive-OR : A + B = (X\'Y\')(XY)\' ⑤ Equivalence X ≡ Y = (X+Y)\' = {(X\'Y\')\'(AB)\'}\' 트랜지스터 다이오드 논리게이트 결과보고서
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  • 등록일 2007.08.26
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