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참고자료
MyProtor를 이용한 디지털 논리실험, 강병익 양세양 공저, 한성출판사, 2000, p.3~4 p.109~113
전자회로의 기초, 강중순 외 3명 저, 북스힐, 2002, p.237~239 1. 실험 목적
2. 질문
1) AND 게이트
2) OR 게이트
3) NOT 게이트
4) XOR 게이트
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통한 C Class-AB Output Stage시뮬레이션
(입력 전압이 일 때의 입력과 출력 전압)
- 출력 전압의 포화 전압은 4.9V 즉 이다.
< 3. 참 고 문 헌 >
- 아주대학교 기초전기실험 교재. < 1. Data Sheet >
< 2. 설계 검증 (시뮬레이션) >
< 3. 참 고 문 헌 >
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실험을 통해 테브닌 정리의 의미를 살폈다. 실험에 앞서 ‘테브닌 정리’에 대한 정확한 의미파악이 중요하다. 테브닌 정리는 회로에서 복잡하며 관심없는 부분을 아주 간단한 등가회로로 대체하는데에 주로 사용된다. 테브닌 정리와 노튼의
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실험을 통해서 공부해보았다.
평소 회로를 해석하고 이해하는데 있어서 조금 복잡한 회로는 테브난의 정리를 이용하여 테브난의 등가회로로 변환하여 회로를 해석하는데 가장 유용한 도구로 많이 사용해왔다. 직류 회로에서는 앞의 기초전
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테브닌 등가회로에 의해 JFET소자의 입장에서 병렬로 연결되어 있으므로 29.76킬로옴이다. 이것이 입력저항이며, 출력저항은 이 실험상에서는 60킬로옴이 된다. 저항이 2배이어야 전압이 0.5배로 하강하기 때문이다. 따라서 이와 같이 계산된 등
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실험 소감
직렬 회로의 저항값을 측정하는 실험이여서, 주된 실험이 저항값을 측정하는 것이였기 때문에 전류가 잘 측정되지 않는 우리는 7장 실험보다 먼저 하였다.
실험을 통해 직렬회로의 총 저항은 각 저항의 합을 모두 합한 것임을 알 수
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기초 물리학, 학원사, 1986
김광훈, 전기회로 기초 실험, 제7·11·12장 저항측정과 전류·전압 법칙, 동일 출판사
대한화학회, 표준일반화학 실험 제5개정판, 천문각
조희영·박승재, 과학론과 과학교육, 교육과학사
최재성, 분석화학, 동화기술, 19
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실험값
5.238
5.238
5.238
mA
측정값
5.2847
5.2849
5.2817
오차
0.0467
0.0469
0.0437
오차율
0.892%
0.895%
0.834%
R1
R2
R3
단위
모의실험값
0.524
1.047
1.729
V
측정값
0.52036
1.05109
1.72654
오차
-0.00364
0.00409
-0.00246
오차율
-0.695%
0.391%
-0.142%
<전압>
<회로 2> 최대허용
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실험을 조정하고 결과를 확인할 수 있는 기회를 제공한다. 이는 전자 회로에 대한 깊은 이해를 돕고, 이론과 실제의 연결을 강화한다. 결과적으로, 전자 회로 실험은 기초적인 공학 지식을 습득하는 데 필수적이며, myDAQ는 이를 실현하는 데 있
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실험을 하는 도중 다이오드를 연결한 브릿지나 회로를 잘못 구성하여 생긴 실수라고 볼 수 있다. 이 때문에 실험결과치가 이론으로 배웠던 값과 다르게 나온 것을 볼 수 있다.
6. 참고
<김상배 저, 개정판 기초전기전자실험, 홍릉과학출판사&
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