|
[ERROR : 10731] 오류 발생. 1. 실험 목적
2. 실험 방법
3. 실험 결과
4. discussion
5. reference
|
|
|
실험은 여러 가지로 많이 부족했던 실험인 것 같다. 실험의 목적은 물론 실험에서 가장 중요한 토크라는 단어조차도 제대로 알지 못했었기 때문이다. 다음부터는 실험 전에 단순히 예비레포트만을 쓰는 것이 아니라 그 실험을 하기 위해 필요
|
|
|
실험장치 및 실험절차 (Apparatus & Procedure)
ⅱ) 비교 변인
(1) 유체(물)이 밀도 변화 (3종)
물을 이용해서 먼저 실험한다. 그리고 물에 소금(또는 설탕)을 넣어 유체의 밀도를 2가지
정도 달리 해서 실험한다.
(2) 추의 밀도 변화 (2종)
추의
|
|
|
실험에서는 신호를 입력시키기 전에 직류 DC를 가지고 안정된 동작점 Q의 위치를 선정하는 Bias 회로 설계에 대해서 실험하였다. 대부분의 측정값이 이론값과 비슷하게 나왔지만, 몇몇 값들은 이론값과 달랐다. 여러 가지 이유가 있었을 것 이
|
|
|
[ERROR : 10731] 오류 발생.
|
|
|
실험 1. 다이오드 특성 및 반파 정류회로 실험
1. 실험 목적
반도체 다이오드의 특성을 실험적으로 구하고 다이오드 응용 회로인 반파정류회로의 동작 원리 및 출력 파형을 관찰하고 측정한다.
2. 실험 원리
① 다이오드 전압-전류 특성
다이오
|
|
|
6
16.46
16.49
16.53
16.62
16.35
13
23.07
22.22
21.32
20.41
19.65
19.77
19.79
19.83
19.91
19.89
15
26.40
25.58
24.69
23.79
23.03
23.05
23.05
23.14
23.21
23.27
<공핍형 MOSFET의 드레인 특성 실험결과표>
(2) 고찰
1) JFET 바이어스와 BJT 바이어스의 차이점을 설명하라.
JFET 바이어스
|
|
|
실험은 전체적으로 공통 드레인, 공통 게이트 증폭기의 동작과 전압이득을 살펴보는 실험을 하였다. 공통 드레인 증폭기에서 가장 먼저 위상차가 없이 파형이 진행되는 특성을 관찰할 수 있었다. 이는 공통 소스 증폭기에서는 입력단()와 출
|
|
|
실험에서는 소신호 공통소스 FET 증폭기에 대해서 실험 했는데, 대부분의 측정값이 이론값과 비슷하게 나왔지만, 몇몇 값들은 이론값과 달랐다. 여러 가지 이유가 있었을 것 이다. 소자가 다를 수도 있기 때문에 그런 것일 수도 있고, 전류계와
|
|
|
[ERROR : 10731] 오류 발생.
|
|
메뉴펼치기
