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실험을 통하여 알아보았다. 그리고 직렬 연결된 R-C회로의 페이져 각이 레지스턴스가 증가함에 따라 나타나는 변화 대하여 실험을 통해서 알아보았다.
무엇보다 오실로스코프를 사용하여 Dual-Trace 해석법, Lissajous-Pattern을 사용하여 페이져 각
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계산한 과 part1에서 계산한 과의 오차율을 계산한다.
(d) 위상각을 구한 두 방법 중 어떤 방법이 더 정확하고 편리한지 파악하고 그 이유를 설명한다.
<Experiment ac 7. The Oscilloscope and Phase Measurements>
-회로도 및 결과-
part1 & part2)
part3)
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치하지 않고 진동수도 다르면, 복잡하게 얽힌 도형이 된다. 전자공학에서 이 곡선들은 오실로스코프(oscilloscope) 화면 위에 나타내진다.
출처 : 교재 본문, 기초전기전자실험(김상배 저, 2009),
네이버백과(http://100.naver.com) ‘리사주 그림’
< 참
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실험 방법 (Experimental Procedure)
1) 시편의 절단
2) 시편의 성형
3) 예비연마
4) 거친연마 (Rough Polishing)
5) 미세연마 (Polishing)
6) 에칭 (Etching)
7) 세척 및 건조 (Cleaning and Drying)
8) 현미경 관찰
3. 실험 결과 및 고찰 (Results & Discussion)
(1) 현미경
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직접 측정하고 실험과정을 통해 직접 증명하는 과정은 평소 아무 생각 없이 외우고 사용하던 식의 의미와 원리를 이해하는데 많은 도움이 된 것 같다. < Part 1 , and versus Frequency >
< Part 2 versus Frequency >
< EXERCISES >
< 실험에 대한 고찰 >
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