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회로는 용량성이 된다. 3. 실험 준비물 기기 ■ 함수발생기 ■ 오실로스코프 저항 ■ 2k , 1/2-W 5% 1개 ■ 10 , 1/2-W 5% 1개 캐패시터 ■ 0.022uF 1개 인덕터 ■ 100mH 코일 기타 ■ SPST 스위치 3개 4. 실험과정 Pspice로 구현 인덕터 전류=1.59mA 13.8mA = 14.6mA 5.
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  • 등록일 2010.12.27
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함수가 출력된다. 그림 3-4 적분기의 동작 만약, 적분기 역시 이득을 제한하고 싶다면 그림 3-5와 같은 회로를 사용하면 되는데, 이 회로는 저주파 이득을 제한하게 된다. 그림 3-5 개선된 적분기 (저주파이득의 제한) 실험 6 OP - AMP 실험 ◎ 결과
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회로의 총 임피던스는 옴의 법칙을 이용하여 와 같다. 3. 실험 준비물 기기 ■ 함수발생기 저항 ■ 2k, 1/2-W 1개 ■ 10, 1/2-W 1개 캐패시터 ■ 0.1uF 1개 인덕터 ■ 100mH 코일 4. 실험과정 Pspice로 구현 Ir= 5mA , 녹색= 인덕터전류 = 8mA 총 전류 = 9.5mA Ir=5mA,
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  • 등록일 2010.12.27
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35. 병렬 RL 및 RC회로의 임피던스 실험 목적 ※ 병렬 RL회로의 임피던스를 실험적으로 확인한다. ※ 병렬 RC회로의 임피던스를 실험적으로 확인한다. 장비 및 부품 -장비  DMM  함수발생기 -부품  저항 2kΩ 1
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  • 등록일 2014.12.01
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시턴스와 인덕턴스가 존재한다. 마찬가지로 축전지와 인덕터에도 각각 저항요소, 커패시턴스, 인덕턴스가 존재한다.) 2. 실험과정 및 결과에 대한 토의 -> 이 실험은 RLC 회로에서 전류를 주파수의 함수로 측정하여 공진현상을 관측하고 이
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된다. 실험기기 테스터, 오실로스코프, 함수발생기, 교류전압계, 교류전류계 만능기판, 만능기판용 전선, 스트리퍼 저항 220 , 470 , 1.5k 1 . 개요 2. 실제의 공진회로 2-1 직렬회로 2-2 병렬회로 2-3 병렬공진회로 3. 실험기기
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회로이다. 그림 7-7을 부울식으로 표현하여 정리하면        X=1·A ⇒         X=0+A ⇒ X=0+A=A 으로 표현되고, 이는 부울대수 기본법칙 1. A+0=A를 나타낸다. 즉, 그림 7-1과 7-7의 회로는 등가이다. 실험 주제 실험에 사용된 부품
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  • 등록일 2011.12.16
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의한 전자회로 기초-니시보리겐지 *응용실험실습-박기영 *일반 물리학 실험 -김명수외 *대학 일반 물리학 -물리학연구회 1. 디지털 멀테 테스터 1) 사용법 2) 사용 시 주의점 2. 실험목적 3. 목표 4. 기기와 재료 5.실험과정
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실험해보니 어렵게 느껴졌던, 키르히호프의 법칙들도 기억에 남고 뜻깊은 실험이었다. 8. 참고 문헌 ‘기계공학실험’ :방광현.조종래.최형식.도덕희 - 2006.03 9. 부록 멀티테스터기의 종류 < 아날로그 멀티테스터기 > < 디지털 멀티테스
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  • 등록일 2010.05.24
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블록도 (b)진리표 참고자료: http://princess.kongju.ac.kr 디지털 회로 설계및 실험 (저자 : 김영춘) 
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  • 등록일 2008.12.23
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