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회로도 및 주요 부품설명 ••••••••••••••••••••••••••• 3
1) 전원부 설명 •••••••••̶
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실험방법
[ TTL 연결 방법 ]
[ NOT gate Test ]
[ EX-OR gate 구현하기 ]
[AND, OR, NOT gate 조합] [NAND 조합] [NOR 조합]
[EX-OR TEST]
결과보고서
실험번호
실험일시
( ) 분반 실험조( 조)
학번
성명
학번
성명
1. 각각의 TTL IC를 이용하여 Exclusive-OR gate를 구현하고 Tes
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실험 및 설계 과목에서 배운 내용들을 활용하여 AVR Processor 기반 Microcontroller Unit인 ATMEGA 128 라이트 모듈로 Digital Clock, Stop Watch, Alarm, Down Count Timer 이 4가지 Mode를 구현하고 그 동작 및 기능을 분석하고 이해한다.
(2) 회로도
(3) 목표
- 위의
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= 0.4 [mA] 정도이다. 따라서,팬아웃 = IOH/IIH = 0.4/0.02 = 20 (= IOL/IIL = 8/0.4)이며, 이것은 LS TTL에는 LS TTL을 20개 까지 접속할 수 있음 의미한다 (1) 다음 각 함수에 대해서 진리표를 구하시오.
(2) 진리표를 이용해서 다음이 성립함을 보이시오.
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실험을 3번씩 하면서 정밀성은 높였지만 정확도는 떨어지는 실험이었다. 분명 이번 실험에서는 딱히 오차가 발생할 이유는 없었다. 디지털 LCR 미터를 사용하고 아날로그 식으로 계기를 조정하고 읽을 것도 없어 정확한 측정값을 읽을 수 있었
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대한 카르노 맵
3. 논리식 구현
① g = AB`+A`B+BC`
② f = A+B`C`
③ e = A`C`+BC`
④ d = A`C`+AB`C+A`B+BC`
⑤ c = B`+BC+AB
⑥ b = B`C`+BC+A`
⑦ a = B+AC+A`C`
- LabVIEW8.0 프로그램을 이용한 회로도
- LabVIEW8.0 프로그램을 이용한 실행 결과
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실험이 되었다. 하지만 오차를 계산해보니 6~7%가 넘는 오차도 있었다. 오차가 생긴 이유는 딱히 없어보였는데 굳이 오차를 분석해보자면 전선 내부의 저항, 디지털 LCR 미터 내부 저항 때문이지 않을까 싶다. 1. 실험결과 (단위 : ㎌)
2. 오
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로는, 수정공진자를 일정온도를 유지 시키는 방법.
둘째는, 수정 공진자나 발진회로의 부품은 온도계수가 적은 것을 사용.
셋째는, 수정편이 충격등으로 움직이지 않도록 보호용기에 넣어 방진에 유의한다.
넷째는, 방습에 주의하며 전원전압
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. 예비보고서 및 결과보고서가 같이 들어 있습니다.
1.Logic gates
2.Logic gates-TTL gates와 deMorgan의 법칙
3. RS-Latch 및 D-LAtch
4.JK flip-flop
5.Shift Register
6. 이진계수기
7. 십진계수기
8. Decoder와 Encoder
9. 덧셈회로(Adder)
10.OP AMP
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회로를 이용해 디지털 신호로 변환하여 사용할 수 있다.
2) 디지털 형
센서에서 나오는 신호가 주기적 또는 펄스 등과 같이 디지털 신호로 나오는 것으로 바이메탈 온도 스윗치 등과 같은 것을 들 수 있으나 센서자체의 신호는 아나로그 신호
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