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디지털 멀티미터로 측정한 값에 오차가 발생한다. 아래표를 보면 어는 정도의 오차가 발생하는 것을 알 수 있다.
6. 참고문헌
일반물리학 및 실험(형설출판사) 1. 실험제목 : 옴의 법칙
2. 실험목적
3. 관련이론
1) 옴의 법칙
4. 실
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디지털 회로 소자의 시스템이 작동한다는 것을 알 수 있었다.
실제 실험을 통해서도 Simulation과 같이 y값이 출력되기까지 시간이 소요되는지를 중점적으로 살펴보아야 하겠고, 또한 이 시간차가 Simulation과 같은 6ns인지도 살펴보아야 할 것이다
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7408)
특징
AND gate 4개
AND gate 진리표
A
1
1
1
1
0
0
0
0
B
1
1
0
0
1
1
0
0
C
1
0
1
0
1
0
1
0
L1
1
1
0
0
0
0
0
0
L2
1
0
0
0
0
0
0
0
결과
결과 : AND gate는 입력값 중 거짓이 있으면 결과값이 거짓이다.
5. IC NOT gate (TTL IC 7404)
특징
NOT gate 4개
NOT gate 진리표
A
1
0
B
0
1
Inv B
1
0
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실험 5의 경우 사용된 소자가 부논리회로이기 때문에 평소 두 핀은 언제나 High로 되어 있어야하고, Low에서만 입력에 따라 출력이 반응하는 회로이다. 그리고 PRESET과 CLEAR도 서로 반대의 입력일 때만 원래의 기능을 수행한다는 것도 알 수 있다.
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교류 전압 측정시에는 ±4[%]정도이다. 이 오차는 25[℃]의 값이고, 온도가 영하로 떨어지거나 40[℃]이상 높아지면 오차는 더욱 커진다. 1.Ohm의 법칙
2.Kirchhoff 의 법칙
3.멀티미터의 기본구성
4.디지털 멀티미터
5.전원 공급기
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공급
(b) 입력에 고전압 공급
[그림] 표준 TTL NAND 게이트 동작
3. 참고 자료
디지털 논리와 설계, 유황빈 (정익사) 600-607page
디지털 工學實驗, 구성모 외 5인 공저 (복두출판사) 149-152page 1. De Morgan의 정리
2. TTL NAND/NOR게이트의 정의와 동작
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실험방법
(1) 주어진 전압계의 내부 저항을 측정하시오. 전압 측정범위에 따라 내부 저항이 다를 수 도 있으므로 각 전압 측정범위에 대하여 내부 저항을 측정하시오.
(2) <그림 6.2>의 회로를 E = 10[V]으로 하여 구성하시오. 아날로그형 직류
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전류이득
Electronics Workbench 이용하여 ß 값과 값구하기
이미터 공통 증폭기
베이스 공통 증폭기
컬렉터 공통 증폭기
표를 이용한 증폭기 비교 분석
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회로를 최대한 단순화 하지 않고 그대로 구성하여 회로가 복잡해지고 결국 회로 곳곳에서 에러가 발생하여 제대로 작동하지도 않을 뿐 아니라 수정도 불가능하게 되는 우를 저질러서 시간을 많이 소비하였다. 하지만 실험과정을 검토한 후
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논리식은 R로서, T에 low-to-high 전이가 일어날 때마다 회로가 다시 트리거(Retrigger)된다.
74123의 Q 출력 펄스폭은 외부 연결저항 R과 캐퍼시턴스 C에 따라
t = 0.33 RC로 주어진다. ■ 실험 목표
■ 사용 부품
■ 관련이론
■ 실험 순서
■
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