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의한 부착량 및 조성 측정 방법
2.2. 표준 시료 제조
2.3. 표준 시료의 도금 부착량과 조성 분석
3. 실험 결과
3.1. 표준 시료의 부착량 및 조성 편차
3.2. 표준 시료의 표면 특성
3.3. XRF에 의한 검량선 작성
4. 결론
5. 참고 문헌
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측정값이 원래의 목표값에 근접한 정도로 판단
주기적인 오차에 의한 변화
(모)평균 - 목표값
참고문헌
ⅰ. 김정주 외 1명, 측정 용어에 대한 유아의 표상 분석, 한국영유아보육학회, 2011
ⅱ. 김주후, 측정도구의 이해와 개발, 성인간호학회, 200
측정 측정수준, 측정척도 측정값, [측정, 측정 개념, 측정 지도, 측정과 측정척도, 측정과 측정수준, 측정과 측정값, 측정척도, 측정수준, 측,
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개발, 포항제철 연구 보고서 (1997) 1
9. 신윤경 : 정량분석, 동명사, 서울 (1977) 232
10. 이승우 : 자외선 흡광 분석법 개론, 한국 표준연구소 연구보고서 (1984) P41 1. 서 론
2. 연구 방법
3. 연구 결과 및 고찰
3.1 도금액내 불순이온과 스러
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시료 분석이 용이하다. X선 조사에 의한 시료 손상은 전자선 조사에 비해 경미하고, 화학상태분석, (반)정량 분석이 용이하다. Ion Sputtering, 각도분해법으로 비파괴 깊이방향 분석 가능하다. 하지만 이 완벽해 보이는 XPS도 X-ray의 매우 넓은 영역
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시료만 분석가능
빠른 분석
시료준비의 까다로움
정확한 정량분석
적절한 표준시료 선택과 분석조건
적은 량의 시료
분석결과 해석의 어려움
주성분 원소의 분석
고가의 장비
SEM 기능동반
전문 operator가 필요
EPMA를 이용한 실험결과를 바
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