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회로는 NOT gate의 출력단자를 AND gate로 묶어 줌으로써 open-collector가 아닌 회로를 구성하게 되었다. 따라서 NOT gate와 AND gate에 의한 논리 값이 출력되게 되었다.
◈실험 종합
논리회로 실험을 위한 기본BASIC GATE에 대한 특성을 연구해 봤다. 각 GATE
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실험 고찰 >
실험 2. CMOS 회로의 전기적 특성을 통하여 High-speed CMOS logic family인 74HC시리즈의 전기적 특성을 이해하고 실험을 통해 동작에 대하여 실험을 통하여 알아보았다.
실험 전 실험 강의 자료를 통해 High는 VOHmin ~ VIHmin 범위를 사용하고
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회로도 및 결과
실험 1) NE555 응용회로의 동작 이해
① NE555 Timer 회로를 구성하시오.
② 555 Timer의 출력에서 나오는 구형파의 주파수를 측정하시오.
※ 주파수 구하는 공식
※ R1 = 5K옴, R2 = 5K옴, C1 = 10uF 일 때 f = 9.6Hz
③ 555 Timer의 출력에서 나오는
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실험을 통해 어떤 입력을 주었을 때 출력으로 원하는 신호레벨을 정할 수 있는 클리퍼나 클램퍼에 대해 배웠다. 다이오드, 저항, 바이어스 전원의 배치에 따라 각각 다른 레벨을 제한할 수 있다. 실험에서 구성했던 회로들 말고도 소자를 다르
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실험을 통한 측정 결과, PSpice시뮬레이션의 통한 예상된 값과 실제 실험을 통해 측정된 값이 회로의 실제 구현에 따른 오차를 감안한다면 거의 일치하였다. 오차의 원인으로는 실험에 쓰인 저항의 미세한 오차와 측정 오차, 그리고 가변 저항
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회로에 흘러들어가 2Ω의 저항에 5A가 흐르고, 5Ω의 저항에 2A가 흘러 합은 7A의 전류가 되는 것이다.
3.멀티미터의 기본구성
멀티미터(Multimeter)
전기량을 측정하는 계기에는 그 종류가 많으므로 실험의 목적에 따라 알맞은 실험 계기를 선택해
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실험이었다. 저항을 부하로 사용하는 공통 소스 증폭기도 있지만, 우리는 전류 소스를 부하로 사용한 증폭기에 대한 실험만 임하였다.
- 실험 순서 1)은 공통 소스 증폭기 회로를 구성하는 것이었다. 회로를 구성한 후 값을 측정하였는데, 이
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회로로 커패시터에 축적된 에너지가 과 가 교대로 출력되어서 출력단에서 정현파를 얻을 수 있도록 하는 역할을 한다고 할 수 있다.
(4) 실험시 어려웠던 점이나 건의할 내용은 무엇인가?- 없음.
실험에 있어 가장 큰 오차값을 보인 것은 출력
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회로 내부의 저항과 실험자의 부주의에 의해 발생하였음을 확인 할 수 있다. 하지만 그림 5.1에 서 보듯이, 이론값과 측정값사이에 거의 차이가 없음을 확인할 수 있다.
⑵ KVL을 증명하시오.
측정된 (Total Voltage) VT를 각각 3회에 걸쳐 측정하였다
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실험방법 및 순서
예비보고서에서 설계한 D/A 변환기를 구현하고, 그 동작을 확인하시오.
예비보고서에서 설계한 S/H 회로를 구현하고, 그 동적을 확인하시오.
예비보고서에서 설계한 A/D 변환기를 구현하고, 그 동작을 확인하시오.
실험 결과
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