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회로를 구성하는 것이다.
② 드모르간의 제 2 법칙()은 NAND 게이트를 bubbled OR 게이트로 대체할 수 있음을 보인다.
- 그러므로 Fig. 15-1d를 Fig. 15-2a로 대체할 수 있다.
③ 디지털 시스템에서는 일반적으로 각 변수와 그의 보수(complement)들을 모두
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새 IC칩으로 하지 않는 이상은 이런 문제가 해결되기 힘들지 않겠나 생각된다.
◎ 참고문헌
디지털 논리와 컴퓨터 설계 (M.Morris Mano저) 1.목적
2.이론
3.간단한문제
4.실험기기 및 부품
5.실험방법
6.이론치및예상결과
7.참고문헌
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전가산기
Reference
1. 디지털논리시스템(동명사)-정의봉 저.
2. 디지털공학실험(복두출판사)-김상욱외 7명
3. Didital Logic Application And Design, Yarbrough 실험9. PLD를 이용한 회로구성
관련이론
○ PLD란?
○ PLA
○ PAL
실험계획
Reference
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회로도>
≪ 표 ≫
< NAND 게이트 진리표>
≪ 그 림 ≫
< NAND 게이트 출력파형> 예비 레포트8장.hwp…………………………………7p
아날로그 및 디지털 회로 설계 실습
-예비레포트-
8. 논리함수와 게이트
1.
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기말 텀프로젝트로 만든것입니다.
여타 레포트 싸이트에서 받는 자료는 대부분 VHDL을 이용한 것인데
이것은 블록 다이어그램을 이용한 회로 구성 파일들을 통째로 압축했습니다.
알람/달력/초시계/오전오후기능이 모두 가능합니다.
모듈
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논리 프로브
디지털 멀티미터
장점
짧은 펄스로도 라인상의 동작을 알기 수월
높은 정확도를 보임
단점
디지털 신호간의 시간적 상관관계를 보여주지 못함
읍답시간이 느림
5. 그림 2-8의 5개 인버터로 이루어지는 회로에 대해 생각해 보자. 각
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논리 1을 저장했다고 말할 수 있고, 리셋(reset) 상태에 있는 플립플롭은 논리 0을 저장했다고 말할 수 있다.
입 력
출 력
D
Q
0
0 1
1
1 0
[ 진리표 ] [ 회로도 ]
Ⅲ. 결론
논리 회로는 컴퓨터, 데이터 통신, 디지털 기록, 디지털 하드웨어를 필요로 하
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논리회로가 단일 고착 고장이라 해도 다중 고착 고장으로 간주해 취급해야 한다.
복잡한 디지털 시스템 시험 방법
Scan Testing : Scan 입력에 대한 출력 관측. Internal scan 및 Boundary scan
BIST(Built-In Self Test)
그림 2.5.4 내부 스캔 테스팅 개략도
그림 2.5
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회로에서 A와 B,B와 C,C 와 D,D 와 E 가 서로 같은 논리상태일 때는 에 0이 나타나고, 서로 다를 때는 1이 나타나므로, 만일 A~E 가 이진부호를 표시한다면 결국 ~ 는 이에 대한 그레이부호를 표시하게 된다.
3. 실험기구
디지털 실험장치
오실로스코
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약 1V가 나왔고 7400 TTL 2개의 게이트에서 입력단과 출력단의 전위차가 1V가 측정되는 것을 알 수 있었다. 실험 7. 디지털 게이트의 전기적 특성
1. 목적
2. 이론적 배경
3. 사용 장비 및 부품
4. 실험 방법
5. 예비 보고 사항
6. 결과 보고서
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