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미세 자석을 가진 MFM 탐침이 된다. MFM 탐침에서 발생하는 자기장과 자성 시료에서 발생하는 자기장의 쌍극자 상호 작용력을 통하여 표면의 자기 정보를 측정할 수 이 1,실험목적
2.이론
3.실험장비
4.실험과정
5.실험결과
6.고찰
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현미경이 발명된 스탠포드대학 Quate 교수 연구실 출신이면서 PSI 창업자인 박상일 박사의 기술력을 바탕으로 국내에 설립된 회사로써, 세계최초로 차세대 원자현미경 XE-Series를 자체 개발하였다. 기존 제품에 비해 성능이 월등한 XE-Series원자현
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/2002
참고 사이트 -http://www.tecsco.net/spm/spm.asp 1. SPM의 역사
2. SPM의 필요배경
3. SPM (Scanning Probe MicroScope)의 의미와 원리
4. STM (Scanning Tunneling MicroScope)
5. AFM(Atomic Force MicroScope)
6. SPM의 종류
7. 타 현미경과 SPM 기술의 비교
8. SPM 응용 분야
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현미경 (dark-field microscope)
(2) 전자현미경 (EM,Electron Microscope)
ㄱ. 주사형 전자 현미경 (SEM, scanning electron microscope)
ㄴ. 투과형 전자현미경 (TEM, transmission electron microscope)
(3) 원자현미경 (AFM,Atomic Force Microscope)
3. Materi
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이론에 대하여 알아보고자 한다.
2. 본론
다음은 AFM 마이크로 캔틸레버의 팁의 비선형(Nonlinear) 동특성을 파악하기 위한 실제 실험에 사용된 탄소나노튜브 탐침이다.
2.1 정적 힘- 거리관계
AFM에서 팁-시료의 간격과 그 사이에 존재하는 비선
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