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om/down/semtem.htm
http://myhome.naver.com/gushin8901/text.htm#2
http://composites.hanyang.ac.kr/afm/intro/intro.htm
http://www.psia.co.kr/
http://www.pubmedcentral.gov/picrender.fcgi?tool=pmcentrez&blobtype=pdf&artid=546822 1.원자현미경과 전자현미경의 비교
2.biomolecule imaging by AFM
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현미경(LM, Light Microscope)
● 전자현미경 (EM, Electron Microscope)
● 원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope)
● 전자현미경의 발전역사
● 기본 원리
● TEM과 SEM의 원리
● 주사전자현미경(SEM)
● 주사전자현미경(SEM)의 구성
● SEM의 분해능(r
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imaging 현상은 이미지할 때 일반적으로 가장 많이 일어나는 현상이다.
탐침의 각도보다 작은 경사 각도를 갖는 시료의 표면현상은 정확하게 재현할 수 있다. 원자현미경의 장점중의 하나는 이미지하는 동안 탐침의 끝이 항상 시료 굴곡사이의
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있다 현미경의 개발 역사
TEM의 원리
TEM의 구성
Imaging System
집광렌즈
대물렌즈
TEM 시편 준비
Bright Field Image
Dark Field Image
회절패턴
1개의 원자와 Fourier Transform
분자와 Fourier Transform
격자와 격자의 Fourier Transform
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원자가 에너지를 흡수하여 여기상태(Excited state)로 되었다가 기저상태(Grounded state)로 되돌아 올 때 원자 고유의 특성X-선을 발하는데 분석 대상 물질의 고유의 특성 x-선을 반도체 검출기(Si-Pin)를 이용하여 분석한다.
이 방법은 미지시료의 Spectr
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