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브리지 평형조건을 만족시키는 , 값을 측정 한다. 단, 는 미지의 인덕터의 내부 등가 직렬저항이다.
그림 6. Maxwell-wien bridge 실험 회로
② 동일한 미지의 인덕터에 대해 [그림 7]의 회로를 구성하고, 주파수와 가변 저항값을 변 화 시키면서 브리
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인덕터의 합성 인덕턴스 결정
3) 과정(3) 병렬 연결된 인덕터의 합성 인덕턴스 결정
3. 결과분석 및 검토사항
1) 결과분석
2) 검토사항
4. 토의
1. 제목: 실험17. 브리지에 의한 LC 측정
2. 실험결과
1) 과정(1) 직렬형 비교 브
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브리지회로를 구성하여 커패시턴스 값을 측정해 봄으로써 브리지회로에 대해 이해 하는 실험이었다. 8장에서 실험했던 브리지 회로를 구성하여 미지의 저항값을 측정하는 방법과 비슷한데 브리지로 저항, 인덕턴스, 커패시턴스, 인덕터의 Q
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인덕터의 구성이 병렬형임을 감안하여 식10(a)를 식 8(a)에 대입하면, 의 Q-지수 는
가 된다.
(4)Shering 브리지와 Wien 브리지
A.Shering 브리지
정전 용량 측정 : 용량계나 충격 검류계를 이용하여 표준 콘덴서의 용량과 비교한다
콘덴서의 손실이나
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인덕터 및 커패시터들의 직렬 접속과 병렬 접속 53
실험 13 인덕터 및 커패시터를 이용한 전압-분배 회로와 전류-분배 회로 61
실험 14 1차 회로들의 계단 응답 65
실험 15 1차 회로들의 펄스 및 구형파 응답 72
실험 16 마이너스 실수
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