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나노측정기기학 - Lecture# 11 (이형우 교수)
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측정방법
1. XRD (X-ray Diffraction)
(1)X-ray 기본원리
1. X-ray란?
2. X-ray의 발생
3. 분석에 이용하는 X-ray는?
(2)Bragg’s Law
1. X-선 회절의 조건은?
2. Direction of Diffracted Beam
(3)XRD 시스템
1. XRD 구성
1) X-ray 발생장치(X-ray Generator)
2). Goniometer
3) 계수기
조성측정방법 TGA, XRD DTA, 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS),
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측정기기보다도 분해능이 좋고 다양한 성질을 측정할 수 있을 뿐만 아니라 거의 모든 환경에서 사용할 수 있기 때문에 나노세계의 눈과 귀로서 각광을 받고 있는 것이다.
# 참고자료 #
- 나노소재기술개발사업단(http://www.nanoedu.re.kr)
- 나노산업
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. - 1. 실험 목표
2. 실험방법 및 유의 사항
3. 실험 결과
4. 광학유리의 래핑 전․후 상태 비교
5. Parameter definitions
6. 현재 진행되고 있는 나노 가공기술 또는 초정밀 표면가공
7. 고찰 및 개선할 점
※참고문헌
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나노소재기기 수업자료 (최봉근 교수님)
-William D. Callister, Jr., Materials Science and Engineering an Introduction 6/e, John Wiley & Sons, Inc., 2003
-Skoog, Douglas A., Principles of Instrumental Analysis 6/E, Thomson, 2007
-투과 전자현미경학 개론/ 성창모/ 반도출판사/ 56~58P(Bragg\'
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