|
3. 옴의 법칙과 저항의 직렬/병렬회로
4. 키르히호프의 법칙
5. 오실로스코프의 사용법
6. 캐패시터의 특성 및 RC 직렬회로
7. 파형의 미분과 적분
8. 인덕터의 특성
9. 인덕터의 직/병렬연결 및 RL직렬회로
10. RL 및 RC병렬회로
|
|
|
회로를 구성한 후 저항기 측정 실험에서는 미지의 저항값의 측정 범위를 조작할 수 있는 실험이다. 이것은 라는 식에서부터 과 의 비율을 달리함으로써 조절할 수 있다.
즉, 미지의 저항의 측정범위가 30㏀이므로 의 값을 1㏀으로 하고 의 값을
|
|
|
다.
따라서 위의 결과로 일치 함을 볼 수 있다.
(5) 전원을 끄고 을 4.7㏀과 15㏀으로 하고 표에 기입하라.
PSpice를 통한 구형파, 삼각파발생기 실험회로 시뮬레이션( )
측정값 : 14.815-(-14.815) = 29.63 ≒ 30
측정값 : 3.8323 -(-3.8323) = 7.6646
점의 (측정값) =
|
|
|
크게 나온 것으로 보인다.
< 4. 참 고 문 헌 >
- FUNDAMENTALS OF MICROELECTRONICS, RAZAVI, WILEY, 2008.
- 회로이론, James W.Nilsson·Susan A, Riedel, WILEY, 2006. < 1. 목 적 >
< 2. 이 론 >
< 3. 실험 과정 및 실험 결과 예상 (시뮬레이션) >
< 4. 참 고 문 헌 >
|
|
|
회로
→ 시뮬레이션 결과를 통해, 를 증명 할 수 있었다.
< 4. 참 고 문 헌 >
- FUNDAMENTALS OF MICROELECTRONICS, RAZAVI, WILEY, 2008.
- FEEDBACK CONTROL OF DYNAMIC SYSTEMS, F.FRANKLIN, PEARSON PRENTICE HALL, 2010. < 1. 목 적 >
< 2. 이 론 >
< 3. 실험 과정 및 실험 결
|
|
|
실험적으로 확인 할 수 있었던 것이다.
< 4. 참 고 문 헌 >
- FUNDAMENTALS OF MICROELECTRONICS, RAZAVI, WILEY, 2008.
- FEEDBACK CONTROL OF DYNAMIC SYSTEMS, F.FRANKLIN, PEARSON PRENTICE HALL, 2010.
- 디지털 디자인, John F. Wakerly, 사이텍미디어, 2008. < 1. 목 적 >
< 2. 이
|
|
|
0° 이다.
< 4. 참 고 문 헌 >
- FUNDAMENTALS OF MICROELECTRONICS, RAZAVI, WILEY, 2008.
- FEEDBACK CONTROL OF DYNAMIC SYSTEMS, F.FRANKLIN,
PEARSON PRENTICE HALL, 2010. < 1. 목 적 >
< 2. 이 론 >
< 3. 실험 과정 및 실험 결과 예상 (시뮬레이션) >
< 4. 참 고 문 헌 >
|
|
|
걸리는 출력 전압의 증가를 막아 일정한 전압을 유지시키기 때문이다.
< 4. 참 고 문 헌 >
- FUNDAMENTALS OF MICROELECTRONICS, RAZAVI, WILEY, 2008. < 1. 목 적 >
< 2. 이 론 >
< 3. 실험 과정 및 실험 결과 예상 (시뮬레이션) >
< 4. 참 고 문 헌 >
|
|
|
0.1ms이다.
< 4. 참 고 문 헌 >
- FUNDAMENTALS OF MICROELECTRONICS, RAZAVI, WILEY, 2008.
- FEEDBACK CONTROL OF DYNAMIC SYSTEMS, F.FRANKLIN, PEARSON PRENTICE HALL, 2010. < 1. 목 적 >
< 2. 이 론 >
< 3. 실험 과정 및 실험 결과 예상 (시뮬레이션) >
< 4. 참 고 문 헌 >
|
|
|
016. JFET 특성
017. JFET 바이어스 회로
018. JFET 바이어스 회로 설계
019. 공통 소스 트랜지스터 증폭기
020. 다단 증폭기 (RC 결합)
021. 공통 이미터 증폭기의 주파수 응답
022. 차동 증폭기 회로
023. 선형 연산 증폭기 회로
024. 능
|
|
메뉴펼치기
