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[ERROR : 10731] 오류 발생. 1. 실험목적
2. 실험장비
3. 실험 이론
4. 실험순서 및 방법
5. 결과
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실험에서는 발생하지않는다.
검토 및 보고 사항
(1)다이오드의 극성 및 손상 여부판정에 대하여 설명하라.
다이오드의 극성은 저항계의 의한 여부판정과 캐소드와 애노드표시의 의한 구별이 있으며, 다이오드가 손상된다면 극성과 상관없이
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카운터에서 출력을 로 잡은 10진 Count-Down 카운터
(9) J-K F/F를 사용하여 10진 리플 카운터를 설계하라.
1. A플립플롭의 출력은 매 클록 펄스 때마다 상태를 바꾸므로 J와 K를 1로 하여 토글될 수 있도록 한다.
2. B플립플롭의 출력은 D플립플롭의 출
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N0=1 IN1=X일 때]
WR0=1 WR=0 IN0=1 IN1=X 일 때 0bit입력을 받아 0이 저장 되고 출력은 0(0V)이 출력된다.
2 bit RAM
[WR0=0 WR=1 In0=X In1=1일 때]
WR0=0 WR=1 IN0=X IN1=1일 때 1bit입력을 받아 1이 저장되고, 출력은 1(5V)이 출력 된다.
2 bit RAM
A1, A2, A3, A4에 의해 주소가
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low 모두 내부 소자에 의해 스위칭이 가능함으로 속도가 매우 빠르고, 전력소모가 적다는 장점과 open collector+pull up 방식은 저항이 커짐에 따라 소비전력은 작으면서 속도가 느려지고, 반대로 저항이 작아지면 속도는 빨라지지만 소비전력이 많
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실험 주파수나 전류 값을 정확한 값에서 통제하지 못하고 외부에서 가해지는 물리적 힘이나 실험 장치 주변에서 생기는 전자기장 때문에 주파수가 변화하거나 해서 오차가 생길 수 있다. 목적
이론
측정 내용
실험 기구 및 장치
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다.
즉, 1×4 디먹스가 두 개 가 연달아 붙어있는 것이다. 그리고 특징적인 것은 입력단인 G값에 LOW가 입력되어야만 Eable한 상태가 되며, 출력단도 역시 ACTIVE LOW 로서 동작한다. 칩의 구조는 절반으로 잘라서 생각했을 때 왼쪽(1~7번핀)이 하나의 1
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파형을 관측할 수 없는데, 이유는 우리가 살펴본 N-channel JFET에서 게이트-소스사이에서 역방향 바이어스일 때만 트랜지스터가 동작하게 되고, 결국 우리가 측정할 수 있는 드레인특성곡선에서의 VGS의 값은 일정한 0V이거나 0V보다 작은 음의 값
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량을 구한다. 실제로 실험한 실험에서 캐패시터의 숫자가 473이라고 쓰여 있었으므로 실험한 캐패시터의 용량은 47000[pF]이므로 0.047[F]이 된다.
이 캐패시터들의 평균 측정값과 이론값을 이용하여 오차율을 구해보면
가 된다.
또다른 캐패시터
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206V로 이론값과 매우 유사한 값이 나왔습니다.
네 번째 실험은 연산증폭기를 비반전 증폭기로 이용한 실험이었고 공식을 이용하여 이론값 35V=15V를 구할 수 있고, 측정값도 14.260V로 유사한 값이 나왔습니다.
다섯 번째 실험은 연산증폭기를 이
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