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분석법이다. 즉, TGA 에 Mass Spectrometer(MS)나 Fourier Transform Infrared Spectrometer(FTIR)을 coupling 하여 시료로부터 방출되는 가스를 정성분석하는 것이다. 아울러 TGA 에 DTA 를겸하고 있는 경우 weight change 는 물론 흡열(endothermic)반응과 발열(exothermic)반응을
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분석법이 검토되고, 분쇄한 배전두에 45 ~374ng/g, 인스턴트커피에 172 ~ 539ng/g, 커피에 6 ~ 16ng/ml함유되어 있는 것이 명확하게 되었다. 커피중의 아크릴아미드 함유량과 건강의 관계는 이제부터의 연구에 위임되고 있다.
Ⅲ. 결론
최근, 분석기기의
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분석법이다. 즉, TGA에 Mass Spectrometer(MS)나 Fourier Transform Infrared Spectrometer(FTIR)을 coupling하여 시료로부터 방출되는 가스를 정성분석하는 것이다. 아울러 TGA에 DTA를 겸하고 있는 경우 weight change는 물론 흡열(endothermic)반응과 발열(exothermic)반응을 측
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기기 자체에서 X-선에 흘려나오거나 하지는 않지만 그래도 주의가 필요한 실험이었다. 1. X선회절현상 이란 ? (X-Ray Diffraction, XRD)
2. 결정에 의한 회절(Diffraction)
3. 역격자와 회절(Diffraction)조건
4. XRD 에 의한 X선 회절 분석법
5. X-선
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기기이다.
질량분석계의 구성요소들은 이미 소개되었다. 시료가 분석계의 이온원에 주입되면 높은 에너지의 전자들과 충격된다. 이때 전자 하나가 떨어져 나간 모체 분자의 양이온을 비롯하여 화학결합이 끊어짐으로써 수많은 토막이온이
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복사선의 흡수
2-2. 전자 전이(electron transition)의 종류
2-3. 발색단(Chromophore)
2-4. 조색단(Auxochrome)
2-5. 분광법칙
3. 기기장치(UV-Visible spectrophotometer)
3-1. 광원(light source): lamp
3-2. 파장선택기
3-3. 시료용기
3-4. 검출기(Detector)
4. 응용
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3) He-Ne laser 광원
• FT-IR에서 사용하는 광원
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(중략) 1 개론
2. 원리 및 구조
1) 원리
2) 흡수이론
3-1. 광원
3-2. 시료취급부
3-3. 단색화장치
3-4. 검출기
3-5. 기록계
3-6. 기기장치
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, 그러나 평면해상도(보통 ~1mm 정도)가 나쁘고, 분석속도가 비교적 느리며, H가 분석되지 않는다는 제한이 있다.
5. 참고 문헌
전자 표면 분석기기의 원리와 응용 : AES 와 XPS, 한국과학기술원 재료공학과 논문, 대한재료금속협회, P303 ~314
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실험 전 시약에 대한 주의사항은 반드시 숙지하고 지켜야한다는 것을 알았다.
*참고문헌
박면용 외 5명『기기분석의 원리와 응용』,녹문당,2000,pp475~477
Daniel C. Harris『분석화학(제8판)』,자유아카데미,2012,pp426~427
Willard,Dean,Merritt,Settle『기기분
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기기 사용법
실험방법
1. Standard solution Na 5, 10, 15 ppm 용액을 만든다.
(100 ppm용액을 미리 만든 후, 각각의 농도로 묽혀 사용한다.)
2. 전원 ON (compressor와 PFP 7)
3. 물이 나올 수 있게 tube를 비워둔다.
4. Fuel adjust valve를 오른쪽으로 돌려놓는다.
5. Powe
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