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contact AFM은 force gradient로 표면형상을 얻을 수 있다.
캔틸레버의 spring constant 가 k0 일 경우를 생각하자. 탐침이 시료표면 가까이 접근 했을 때 탐침에 반 데르 발스의 인력이 작용하기 때문에 캔틸레버의 spring constant는 원래의 값(k0)에서 새로운
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contact AFM은 force gradient로 표면형상을 얻을 수 있다.
캔틸레버의 spring constant 가 k0 일 경우를 생각하자. 탐침이 시료표면 가까이 접근 했을 때 탐침에 반 데르 발스의 인력이 작용하기 때문에 캔틸레버의 spring constant는 원래의 값(k0)에서 새로운
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AFM과 형광현미경, 공집점 레이저 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope), 전반사(Total Internal Reflection : TIRF)형광현미경, Raman 분광법 등을 조합하여 다양한 AFM을 사용하고 있습니다. 1. What is the AFM??
2. AFM 구조 및 원리
-contact mode
-noncontact mode
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보여줌.
-. 분해능은 원자단위의 배열까지 보여줄 정도이며, 전류를 측정하므로 도체나 반도체의 표면에만 측정이 가능함.(단점) 1.STM의 원리 및 분류
2.AFM의 작동원리
2-1 Contact mode
2-2 Non-Contact mode AFM
2-3 Tapping mode AFM
3실험결과
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AFM
2. Principle of AFM
3. Atomic force
4. Measurement types of AFM
Contact mode
Non-contact mode
Tapping mode
5. Advantage & disadvantage of AFM
6. Examples of surface characterization with AFM
Self-assembled 1,4-dithiane on gold surface
Thiomacrocyclic
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AFM 분석을 통해 공정 매개변수에 대한 광범위한 데이터를 수집했습니다. 연구팀은 4가지 주요 공정 매개변수를 조정하여 중요한 연구 성과를 달성했습니다.
첫 번째는 Ar 가스 유량 조절이었습니다. 유량 감소가 박막의 핵 생성 밀도 감소로
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