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것처럼 심각하지는 않다. 끝으로 이 식은 상대 적분강도, 즉 강도 대 2θ의 곡선 하의 상대 면적을 준다는 것을 상기해야 한다. 만일 정확한 식이 필요하면, 흡수 인자 A(θ)와 온도이자 을 끼워 넣어야 한다. 1.Laue 법
2.Debye -scherrer 카메라
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법선으로 나타난다.
회절강도의 최대값(diffraction spots)은 3개의Laue equations이 만족되거나 혹은Bragg 조건이 민족될 때 나타난다. 이 조건은 아래의 그림과 같이 역격자점이 정확하게 Ewald sphere에 놓일 때 성립한다
그림에서 볼 수 있듯이 역격자
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법(Laue Camera)
원통Film으로 얻으면 다음 그림과 같이 입사X선(Diffracted X-Rays)의 위치를 중심으로 동심원상태의 회절선을 얻게 된다.
원통 Film법(Debye-Scherrer Camera)
이러한 동심원을 일반적으로 Debye-Scherrer ring 또는 간단히 Debye ring 이라고 한다.
계
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법에 따라서, Film을 사용하는 사진법에 의한 것과 검출기를 이용하는 Counter법에 의한 것으로 분류할 수 있다. 사진법에 의한 것은 Debye-Scherrer Camera(Powder Camera), Laue Camera, 검출기를 이용하는 것은 Diffractometer 가 있다. 검출기에 의해 자동기록방
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법: 공침법, 고상반응법
XRD의 정의
정의: 각 원자에 입사된 X-선에 의해 산란된 x-선 산란파가
간섭현상을 일으키고 이는 특정한 방향으로만 진행하는 현상
증명: 1912년 Von Laue에 의해 실험적으로 증명
※ X-선 회절무늬(Diffraction pattern)는
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