[방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법]

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목차

1.Laue 법

2.Debye -scherrer 카메라

본문내용

한 함수 로 나타낸다. 이적분은 수치로만 할 수 있는 것이다. 그 결과는 ∂와 r의 곱의 함수로서 A(∂)값들의 표이고, 여기서는 는 시편의 선형흡수계수이고 r으니 시편의 반경이다. 시편은 일반적으로 분말의 작은 덩어리이고 흡수계수는
압분체=고체(압분체/고체)
이고 여시서 는 밀도이다.
원통형 시편에서 흡수인자의 정확한 계산은 흔히 너무 어려워서, 그 결과 Debye -scherrer법을 사용할 때, 이 효과를 회절강도를 계산하는 데서 언제나 무시할 수 있다는 것은 다행이다.
분말 회절선의 상대강도를 위한 공식으로 함께 모아보면 다음과 같다.
여기서 I=상대 적분강도(임의의 단위), F=구조인자, p=다중도 인자, θ=Bragg각이다. 괄호 안의 삼각함수 항은 Lorentz-편광인자이다. 이 식에 이르는 에 있어서, 회절 무늬의 모든 회절선에서 일정한 인자를 생략한다. 예를 들면, Thomson 공식에 남아 있는 것은 편광인자 뿐이고,. 상수인 인자. 가령 입사빔의 강도와 전자의 전하와 질량을 생략한다. 그리고 한 회절선의 강도는 시편의 노광부피에 직접 비례하며 카메라 반경에 역으로 비례하지만 이 인자는 역시 모든 회절선에서 일정하여 이를 무시할 수 있다. 온도와 흡수 인자의 생략은 위 식이 회절무늬에서 서로 꽤 가깝게 있는 선에서만 유효하다는 것을 의미한다. 이 후자가 제한하는 것은 들리는 것처럼 심각하지는 않다. 끝으로 이 식은 상대 적분강도, 즉 강도 대 2θ의 곡선 하의 상대 면적을 준다는 것을 상기해야 한다. 만일 정확한 식이 필요하면, 흡수 인자 A(θ)와 온도이자 을 끼워 넣어야 한다.

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