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적분한 함수 로 나타낸다. 이적분은 수치로만 할 수 있는 것이다. 그 결과는 ∂와 r의 곱의 함수로서 A(∂)값들의 표이고, 여기서는 는 시편의 선형흡수계수이고 r으니 시편의 반경이다. 시편은 일반적으로 분말의 작은 덩어리이고 흡수계수는
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Scanning Electron microscopy : 주사전자현미경)
1. 구 조
2. 전자선의 발생 원리
3. SE(Secondary Electron)와 BSE(Backscattered Eletron)의 차이와 장단점
4. 가속전압과 Image와의 관계
5. EDS(Energy Dispersive X-ray Spectrometer), WDS(Wavelengths Dispersive X-ray Spectrometer)
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Scanning Electron Microscopy) : PILETA, 보유장비,
http://www.pileta.co.kr/%EB%B3%B4%EC%9C%A0%EC%9E%A5%EB%B9%84/2191406
[3] Fig.6 Sputter 장비 : HITACHI, Ion Sputter MC1000
https://www.hitachi-hightech.com/kr/product_detail/?pn=em-mc1000&version=ko
[4] Fig.7 원자력현미경(AFM, Atomic Force Microscopy)
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X-ray 방사선 검사 : Roentgen ray 투사
(2) Fluoroscopy : 형광경검사
(3) Mammography : 유방조영술
(4) Computed tomography : (컴퓨터단층촬영)
(5) Ultrasonography : (초음파 촬영)
(6) Magnetic resonance imaging: MRI(자기공명영상)
(7) Neuclear medicine procedure, nuclear scanning : (
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X-ray photoelectron Diffraction, 전자 beam을 이용하는 Low Energy Electron Diffraction, Reflection High Energy Electron Diffraction, 원자 단위의 resolution을 가지는 Scanning Tunneling Microscopy, Atomic Force Microscopy 등을 다양하게 구사해야 한다.
5. 참고 문헌
물리학 실험 B-2 XPS m
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