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및 검출 한계
1. 감도
2. 검출한계
(4) 적용범위
(5) 분석방법
2. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
(1) 기본원리
(2) ESCA 장치의 주요 구조
(3) 광전자 스펙트럼 (Photoelectron spectrum)
(4) 화학적 이동 (Chemical shift)
(5) 정량 분석 (Quantitative analysis)
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Serway, Moses, Moyer (김충선, 이삼현 공역)
(2) GRIFFITHS 양자역학 (청범출판)
(3) 진공, 표면 분석기술의 입문 (이명복, 이정희)
(4) 표면분석기술 3학년 수업 ppt자료 UPS(Ultraviolet Photoelectron spectroscopy)
1. 실험 목적
2. 실험 이론
3. 참고
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photoelectron Diffraction, 전자 beam을 이용하는 Low Energy Electron Diffraction, Reflection High Energy Electron Diffraction, 원자 단위의 resolution을 가지는 Scanning Tunneling Microscopy, Atomic Force Microscopy 등을 다양하게 구사해야 한다.
5. 참고 문헌
물리학 실험 B-2 XPS manual&
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빠른 전자를 물체에 충돌시킬 때 투과력이 강한 복사선(전자기파)이 방출되는데 이 복사선을 X-ray 각각의 금속에 고유한 에너지 이상의 빛을 쬐었을 때 전자가 일함수라고 하는 원자핵과의 속박에너지 이상의 에너지를 얻어 금속 밖으로 방출
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분석에서는 XPS가 더욱 유용하다.
ㅂ. 유기화합물의 분석
유기화합물의 XPS 스펙트럼을 IR, NMR과 같이 보완하면서 해석하면 많은 정보를 얻을 수 있다. 유기물의 구조해석, 원소정량, 원자의 결합, 원자가의 성질을 규명할 수 있으며, 또한 고분
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