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치
회로실험기
오실로스코프
TTL 7400 (quad 2-input NAND Gate)
- 4개의 정 논리 NAND 게이트가 각각 독립적으로 동작한다. 어느 게이트든 하나 이상의 입력이‘0’상태이 면 출력은‘1’이다. 두 입력 모두‘1’이면 출력은‘0’이다. 14개의 핀을 가
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림5-4와 같은 회로를 결선하고 입력 A, B 에 따른 출력 Y를 측정하라.
그림5-4 기본 게이트로 XOR 발생기 구현회로
(3) 그림5-5와 같은 회로를 결선하고 입력 A, B 에 따른 출력 X를 측정하라.
그림5-5 NAND 게이트로 XOR발생기 구현회로
(4) 그림5-6과 같은
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서 표기한다.
XOR 게이트의 논리식은
으로 표기할 수 있으므로 AND, OR, NOT 게이트를 사용하여 XOR 게이트를 구성할 수 있다. 다른 한편 로 표기할 수 있으므로 XOR 게이트는 NAND 게이트만 사용하여 구성 할 수 있다. 또한
로 표기할 수 있으므로 XOR
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실험 5 보고서
실험목표:
□실험을통하여 OR와 XOR의 진리표 결정.
□펄스 파형을 이용하여 OR와 XOR 논리 게이트 테스트.
□OR와 XOR 게이트를 사용하여 4비트 2진수의 1의 보수 또는 2의 보수를 실행하는 회로 구성.
□모의 실험용 결함에 대한 보
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게이트의 진리표
3. 실험부품
전원장치(5V), BreadBoard, 리드선, 스트리퍼, 디지털 멀티미터, 저항(330Ω)5개,
IC(74HC00, 74HC02, 74HC04, 74HC08, 74HC32, 74HC86)
4.실험
1) [실험 2-1] AND, OR, NOT 게이트 회로 구현하기
1.다음 그림의 AND 연산회로와 OR 연산회로를 각
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