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1.목적 및 개요
목 적
복수개의 피로시험을 한 결과로부터 임의의 파괴확률 P 에 대응되는 P-S-N 곡선을 구하여 대상 재료의 모집단에 대한 피로 강도 및 피로 수명, 산포 등을 구하는 것
개 요
S-N 곡선의 의미는 실험값들의 평균값을 curve fitti
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n-형 기판의 경우 C-V 곡선이 그림의 거울상이 된다.
이상적인 C-V곡선
4. I-v curve
게이트 전압을 인가해서 채널이 형성된 MOS 트랜지스터를 증가형(enhancement type)이라 한다. 이것에 대해서 절연물-반도체의
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물리적 요인
2) 화학적 요인
(3) 생장의 측정
(4) 생장곡선(Growth Curve)
1) 유도기(Lag phase)
2) 대수기(Exponential phase 또는 Log phase)
3) 정체기(Stationary phase)
4) 사멸기(Death phase)
5) 미생물 생장에 관련된 수학
4. Procedure
5. Reference
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N. Koblitz, Algebraic aspects of cryptography, Springer-Verlag, 1997.
3. A. Menezes, Elliptic curve public key cryptosystems, Kluwer Academic Publishers, 1993.
4. T. Satoh and K.Araki, Fermat Quotients and the Polynomial time discrete log algorithm
5. J.H. Silverman, The arithmetic of elliptic curv
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curve의 모양으로 n-type인지 p-type인지 알 수 있다. 즉, high frequency일 때 p-type은 전압이 증가할 때 C값이 감소하고, n-type은 전압이 증가할 때 C값이 증가한다.
<그림31> n-type의 경우 C-V curve
<그림32> p-type의 경우 C-V curve
② doping concentration
C-
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