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이용하라. 각 주파수에 대한 임피던스를 다음의 식을 이용하여 계산하고 표17.2에 기록하라. 여기에서 및 Xc는 계산된 값을 이용하고, R는 실험에서 사용한 값을 이용하라. 1.실험목적
2.실험이론
① 직렬 RL 회로의 임피던스
② 직렬 RC
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이용하여 트랜지스터의 와 값을 구해보시오.
-> 와 을 이용하여 계산하면
= 1.125V , k = 0.919mA/V2이 나온다.
-> υc 와 υa 측정
E2.2 신호 왜곡
실험 장치 :
○ 그림 5.4회로에서 V2=15V 그리고 V1은 VC=5V가 되도록 조정하고, 0.1Vpp이고 1kHz의 삼각파를
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참조한다. 부하전류 IL의 변화는 분할기의 분기전압 VCD와 VBD에 어떤 영향을 미치는가? 데이터로부터 특정한 예를 보이고, 이 영향에 대한 이유 를 설명하시오.
5. I1, VBD, VCD, RL의 측정값과 계산 값을 비교하고, 차이점을 설명하시오.
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. 그리고 RL을 바꾸어 가면서 총 세 번의 실험을 했다. 이번엔 RL을 단락시키고 그 branch에 흐르는 전류(IN)를 측정하였다. 또 전압원까지 단락시킨 후 등가 저항을 측정했다. 마지막으로 노턴 등가회로 칸에는 측정치를 이용하여 IL을 계산한 값
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이용하여 IL계산.
12 저항 RL을 1K 으로 교체, VPS를 15V로 조정, IL측정
13 부하 저항 RL을 제거 IL측정
14 부하저한을 1k 을 사용하여 테브닌 등가회호 구성한다.
15 측정값을 가지고 RL을 1K 에대해 IL 계산.
3. 실험 결과
4. 결과 및 토의
복잡한 회로에서
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회로를 구성하여 에 흐르는 전류를 측정하시오.
①위 그림의 A회로를 밀만의 등가 회로로 변환시키시오.
②A회로에서 에 흐르는 전류를 측정하시오.
③B회로에서 에 흐르는 전류를 측정하시오.
구 분
A 회로
B 회로 ▶ 실험제목
▶ 실험목
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이용하였다. 이 때문에 태브냉 등가회로로 구성한 실험에서 오차가 생겼을 수도 있다. 이렇게 구성한 태브냉 등가회로의 측정값과 원회로의 측정값을 비교해 보았다.
IL 측정
원회로(mA)
태브냉 등가회로
(mA)
오차
2.90
2.99
3.0%
3.60
3.64
1.1%
1.80
1.88
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인덕턴스의 특성 (결과 레포트)
3. 실 험 과 정
4. 실 험 결 과
(1) 인덕터의 L-R-C 측정
(2) 주파수에 따른 리액턴스의 변화
(3) 인덕턴스의 내부저항
(4) 인덕터 양단의 위상차(오실로스코프 이용)
(5) 직렬 접속 회로
(6) 병렬 접속 회로
5.
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이용한 특성 분석 및 이론적 특성분석과 비교 검토 및 결론
그림 11은 PSpice를 통해서 시뮬레이션을 한 출력 파형이다. 저항을 바꿨경우 리플 전압이 상당히 변하는 것을 알수 있다.
2-3. 두 회로를 결합한 회로의 spice를 이용한 특성 분석 및 이
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이용하여 각 전압을 계산한다.
= IZ = 1100 = 100V
= IR = 180 = 80V
= IXc = 160 = 60V
14) 11)에서 측정된 전압값과 계산된 전압값을 비교한다.
비슷하다.
15) 전원을 Off시키고 그림 7-3과 같이 RL 병렬 회로를 연결한다. R, 는 주어진 값으로 설정한다.
16) 전원
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