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회로의 경우와 우사함을 알 수 있다. 회로의 임피던스는 공진시 최대이다. 그림과 같이 병렬 LC회로에서 공진주파수은 주파수를 변화시킬 수 있는 전원을 사용하면 실험적으로 결정할 수 있다. 저항에 걸린 전압 을 측정하면 옴의 법칙에 의
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  • 등록일 2021.02.02
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c } = P(tan { theta }_{ 1} - tan { theta }_{ 2} ) = P LEFT ( { sin { theta }_{ 1} } over {cos{ theta }_{ 1}} - { sin{ theta }_{ 2}} over {cos{ theta }_{ 2} } } RIGHT ) = P LEFT ( SQRT { { 1} over { { cos}^{2 }{ theta }_{ 1} } -1} -SQRT { { 1} over { { cos}^{2 }{ theta }_{ 2} } -1} RIGHT )[kVA] 여
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  • 등록일 2006.09.29
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코일에 흐르는 직류 성분의 크기가 같고 반대 방향 이어서 직류 여자를 받지 않아 비직선 일그러짐이 제거된다. 4 공급 전원에 리플이 포함되더라도 부하가 나타나지 않는다. (3) SEPP 회로 1 DEPP (double-ended push-pull) 회로 두개의 트랜지스터가
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  • 등록일 2003.01.18
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측정하기 위한 기기이다. 라) 영상 변류기(ZCT: zero-phase current transformer) - 영상 변류기는 회로에 지락사고가 발생했을 때 흐르는 영상전류(지락전류)를 검출하여 접지 계전기에 의해 차단기가 동작하도록 하는 기기이다. 8) 보호 계전기 - 보호
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  • 등록일 2004.08.31
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실험시약 3. 실험방법 4. 실험계산식 < T K N > 1. 실험원리 2. 실험시약 3. 실험방법 4. 실험계산식 < T P > 1. 실험원리 2. 실험시약 3. 실험방법 4. 실험계산식 < S S > 1. 실험원리 2. 실험시약 3. 실험방법 4. 실험계산식 < C l ‾ >
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  • 등록일 2008.12.28
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R 성분은 전압과 전류의 위상각이 같고, C 성분은 전압이 전류 보다 90도 앞서며, L 성분은 반대로 90도 뒤진다. 실험의 오차의 원인은 회로와 전선 등의 실험 도구에서 자체 저항을 가지고 있었기 때문에 발생한 오차로 보인다. 7. 참고 문헌: 일
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  • 등록일 2012.11.07
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저항에 비례한다 따라서 옴과 키르히호프 법칙에 의해 다이오드의 전압값이 달라지게 된다. Ⅰ. 실험결과 A. 고정전압의 순방향 바이어스의 경우 B. 고정전압의 역방향 바이어스의 경우 C. 다이오드 순방향 특성곡선 D. 다이오드
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실험 목적 2. 관련 이론 가. 단상 브리지정류기 나. 2상 반파정류기(Two-phase half-wave rectifier) 3. 실험 요약 4. 실험 순서 가. 단상 브리지 정류기 나. 변압기 중성탭을 이용하여 두 개의 다이오드를 사용하는 2상 반파정류기 5.
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  • 등록일 2016.01.05
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실험 목적 2. 관련 이론 가. 다이오드의 동작특성 나. 반파정류기(Half-wave Rectifier) 다. 환류다이오드를 갖는 정류기 3. 실험 요약 4. 실험 순서 가. 전력다이오드의 특성곡선 나. 반파 정류회로 다. 환류(環流) 다이오드를 갖
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  • 등록일 2016.01.04
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회로는 이득이 플러스인 비반전 증폭기와 그 증폭기의 정귀한 루프에 접속된 주파수-선택 회로망으로 구성된다. 오실리코프를 보게 되면 정현파가 발생하도록가변 저항을 조절하면, 위에 오실로스코프의 결과처럼 나온다고 한다. 2) L_C 귀환
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