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Transmission Electron Microscopy) : 한국뇌연구원, 투과전자
현미경 교육, https://www.kbri.re.kr/new/pages/sub/0746_view.html?no=21880
[2] Fig.5 주사 전자 현미경(SEM, Scanning Electron Microscopy) : PILETA, 보유장비,
http://www.pileta.co.kr/%EB%B3%B4%EC%9C%A0%EC%9E%A5%EB%B9%84/2191406
[3] Fig.6
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상호작용
● 투과전자현미경(Transmision Electron Microscopy)
● 광학현미경과 전자현미경의 illumination system의 비교
● 명시야상 (Bright-Field Image)
● 암시야상 (Dark-Field Image)
● 회절패턴 (Diffraction pattern)
● 시편 제작 방법
□ 참고 문헌
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transmission electron microscopy)과 훑기 꿰뚫기 현미경 측정법 (scanning tunneling microscopy ; STM) 과 같은 방법으로 위에서 논의한 결정구조들을 관찰할 수 있다. 이 6원자배열구조의 직젖적인 영상화에서는 이와같은 장비들에 대하여 간단히 알아보도록
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transmission electron microscopy)과 훑기 꿰뚫기 현미경 측정법 (scanning tunneling microscopy ; STM) 과 같은 방법으로 위에서 논의한 결정구조들을 관찰할 수 있다. 이 6원자배열구조의 직젖적인 영상화에서는 이와같은 장비들에 대하여 간단히 알아보도록
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transmission electron microscopy)
- 목적 : 조직의 단면의 변화를 보기 위한 현미경
1. 고정
2. 탈수
3. 치환
4. 침투 및 포매
5. 중합
6. 박절
7. 일반 전자염색 (routine electron stain)
8. 관찰 및 사진촬영
9. 필름 현상
10. 사진 인화
✡ 주사전자
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