목차
1.실험 목적
2.실험 기구 및 부품
3.실험 이론
4.실험 과정 및 예상결과
5.참고문헌
2.실험 기구 및 부품
3.실험 이론
4.실험 과정 및 예상결과
5.참고문헌
본문내용
1.실험 목적
∎ 결합 커패시턴스에 의한 EF-Amp 저주파 응답특성 측정
∎ 바이패스 커패시턴스에 의한 CE-Amp 저주파 응답특성 측정
∎ CE-Amp 고주파 응답특성 측정
2.실험 기구 및 부품
∎ DC 전원공급 장치 ∎ Oscilloscope (2채널) ∎ 함수 발생기
∎ Capacitor ∎ Inductor ∎ Transistor ∎ 멀티미터
3.실험 이론
■ 증폭기의 저주파 응답 특성
∎ 증폭기의 저주파 응답 특성
- 신호의 주파수가 낮을수록 증폭기 이득이 감소하는 특성을 저주파 응답 특성이라고 한다.
- 결합 커패시터와 바이패스 커패시터는 증폭기의 저주파 응답 특성에 영향을 미친다.
- 증폭기의 저주파 응답 특성을 나타내는 하측 차단주파수 f_L은 중대역 이득 Am으로부터 3MB 감소하는 주파수로 정의된다.
∎ 결합 커패시터가 하측 차단주파수에 미치는 영향
- 증폭기 입력단의 결합 커패시터(Cc1)에 의하여 하측 차단주파수 fl이 표현가능하다
∎ 결합 커패시턴스에 의한 EF-Amp 저주파 응답특성 측정
∎ 바이패스 커패시턴스에 의한 CE-Amp 저주파 응답특성 측정
∎ CE-Amp 고주파 응답특성 측정
2.실험 기구 및 부품
∎ DC 전원공급 장치 ∎ Oscilloscope (2채널) ∎ 함수 발생기
∎ Capacitor ∎ Inductor ∎ Transistor ∎ 멀티미터
3.실험 이론
■ 증폭기의 저주파 응답 특성
∎ 증폭기의 저주파 응답 특성
- 신호의 주파수가 낮을수록 증폭기 이득이 감소하는 특성을 저주파 응답 특성이라고 한다.
- 결합 커패시터와 바이패스 커패시터는 증폭기의 저주파 응답 특성에 영향을 미친다.
- 증폭기의 저주파 응답 특성을 나타내는 하측 차단주파수 f_L은 중대역 이득 Am으로부터 3MB 감소하는 주파수로 정의된다.
∎ 결합 커패시터가 하측 차단주파수에 미치는 영향
- 증폭기 입력단의 결합 커패시터(Cc1)에 의하여 하측 차단주파수 fl이 표현가능하다
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