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SPM(Scanning Probe Microscopy)의 탐침(tip)으로 사용되기에 매우 적절한 일차원 구조를 가진다. AFM(Atomic Force Microscopy:원자간력 현미경)은 나노스케일의 대상을 직접 관찰할 수 있는 장비로 마이크로 캔틸레버 팁을 시료 표면에 접근시켜 나타나는 캔
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, 2004년, pp827-886.
- 표준연구원 측정기술, 1998년 ; http://blog.naver.com/nanomate/110003145585
- http://mulli.kps.or.kr/~net/research/hongbo/7-3/
- http://blog.naver.com/pilest/100004960265 -SPM이란?
-SPM의 종류
-STM & AFM
-STM의 등장 및 원리
-STM의 측정방식
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Probe Microscope 이란?
1-1. SPM의 스캐너
1-2. 스캐너 구조와 작동
1-3. 스캐너의 본질적인 문제점들.
1-3-1. Intrinsic 비선형성
1-3-2. Hysteresis
1-3-3. Creep
1-3-4. Aging
1-3-5. Cross Coupling
1-4. 스캐너 문제점들의 해결방법
1-4-1. Software correctio
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반발력과 인력
전기적인 특성과 무관하므로 도체, 반도체 및 부도체등 모든 시료의 분석에 범용적으로 적용
1.SPM 이란?
2.SPM의 원리
STM(Scanning Tunneling Microscope)
AFM(Atomic Force Microscope)
3.SPM…(others)
4.Application of SPM
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SPM의 종류와 원리
- 광학현미경과 전자현미경 원자현미경의 특성비교
- 원자현미경의 측정모드
- Ra와 RMS값의 정의
- 측정샘플 : 제조한 AU Colloid 및 AAO 표준샘플
- FTIR의 간략한 소개
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