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X-ray Diffraction에 사용되는 시편은 최대한으로 표면을 깨끗하게 폴리싱한 상태여야 하는데 사용된 시편들은 폴리싱한지 오랜 시간이 지난 것들이 여서 시편의 이물질이나 상처가 있었을 가능성 또한 커다란 오차원인이었을 것이다. 또 한가지
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X-Ray Diffraction)현상을 이용하여 각종물질의 결정구조를 밝히는데 성공하였다 X-Ray Diffraction(XRD)
X선(X-Rays) 의 발견
X선(X-Rays)의 성질
X선(X-Rays)의 스펙트럼(Spectrum).
특성X선(Characteristic X-rays).
X선(X-rays)의 흡수(Absorption).
Filter
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et재료보다 원자번호 1개 작은 것을 택하게 된다. filter는 보통 thin foil이 사용된다. 대부분의 X-ray 회절 실험에서는 가능한 한 monochromatic radiation에 가까운 radiation이 요구된다.
Feature
http://minhofx.blog.me/110082024006
XRD에 대한 특징으로는 시료에 대
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XRD를 사용하여 NaCl시료를 분석하였다. X선 회절(X-Ray Diffraction, XRD)은 물질의 내부 미세구조를 밝히는데 매우 유용한 수단이다.
현대 X-선 회절은 Bragg의 법칙에 기초를 두고 있다. Bragg의 법칙 (n入=2dsinθ)에 의하면 일단 반사를 나타내는 각 θ를
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X-ray실에는 사용하지 않고 M의 위치에 X-선원을 바로 놓는다. 그러나 이 방법으로는 박막이 우선방위 성장을 한 것인지 epitaxial 성장을 한 것인지 알아볼 수 없으며, 이를 알아보기 위해서는 Pole-figure를 측정하여야 한다.
그림. 15 θ 주사법
그림
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