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0000000000000209B7DF588
http://100.naver.com/100.nhn?docid=116829
http://ko.wikipedia.org/wiki/%EC%98%B4%EC%9D%98_%EB%B2%95%EC%B9%99
http://www.multispace.co.kr/junki/dc/ohm_1.htm Abstract(실험목표)
Introduction(실험소개)
Theory(이론)
Experiment Plan(실험계획)
Reference(참고문헌
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각 저항체들에 흐르는 전류를 구하기 위해서 Kirchhoff의 법칙으로 잘 알려진 법칙을 사용한다. 이법칙은 단지 전하 보존과 에너지 보존 법칙을 회로망에 적용한 것이다.
Kirchhoff 법칙은 다음과 같이 기술 될 수 있다.
·제1법칙 : 회로망 내의 한
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ohm(저항값)을 구한 후, 표면저항 단위인 ohm/sq로 계산하기 위해 보정계수(C.F)를 곱해준다. Wafer, LCD, 태양전지, OLED, 신소재박막의 생산과정에서 박막의 전도성을 검사하기 위하여 쓰인다.
4 point probe
4. 입혀진 박막의 접착력 평가(ASTM D3359-87방법
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법으로 행하였기 때문에 접촉 저항의 가능성이 배제되고 고전적 관점에서의 전기전도성 원리인 옴(Ohm)의 법칙에 준한 결과가 도출되었다.
②회귀 분석 결과 I - V0 graph는 data의 직선성이 약하게 드러났다.
이는 ㉠단순히 power supplier에서의 전
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", 장현태 외 3인 공역, 동화기술, 1999 1. 실험제목
2. 실험일자
3. 실험목적
4. 실험이론
(1) 반응기의 종류:
(2)반응 속도식의 정의:
(3)Mole balance를 이용한 반응 속도식의 유도
(4)반응 속도식 측정 방법
-적분법, 미분법
5. 참고문헌
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