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및 부품
직류 전원 공급 장치
함수 발생기
오실로스코프
디지털 멀티 미터
트랜지스터 : 2SC1815 (1개)
저항 1kΩ, 2Ω, 2.7kΩ, 3.9kΩ, 4.7kΩ, 5.6kΩ
커패시터 : 47μF (전해, 3개)
4. 실험 방법
4.1 이미터 접지 증폭 회로
1) 실험 회로 12-1의 회로를 구성
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함수 발생기
오실로스코프
디지털 멀티 미터
저항 4.7kΩ (4개), 5.6kΩ (2개), 6.8kΩ, 22kΩ, 27kΩ
커패시터 : 100μF (전해, 2개)
바이폴라 트랜지스터 : 2SC1815 (1개)
4. 실험 방법
4.1 베이스 접지 증폭기
1) 실험 회로 8-1의 회로를 구성하라.
2) 동작점을
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디지털 회로시험기
④ 커패시터 : (0.1)
⑤ 저항 : 1K
⑥ 브레드보드
⑦ 함수발생기
4. 실험과정
1) RC회로
①그림과 같이 저역필터의 기능을 갖는 RC회로를 구성한다.
이때 콘덴서를 연결할 때 (-)방향을 확인하고 연결해야 하고 브레드보드를 이용
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회로로 대치하였다. 아래 그림에서 Vt와 Rt의 값을 Vt＇와 Rt＇을 이용하여 계산하라. Vt, Rt, In을 실험적으로 얻으려면, 측정항 전압값을 부하전류(즉, 전압을 부하저항으로 나눈 값)에 대한 함수로 그래프를 그리면 된다. 이렇게 하여 얻은 실험
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회로로 놓는다.)
3. 사용 장비 및 부품
직류 전원 공급 장치
함수 발생기
오실로스코프
디지털 멀티 미터
MOSFET : 2N7000TA (1개)
저항 10Ω, 1.8kΩ, 2.2kΩ, 3.3kΩ, 4.7kΩ 등 다수
커패시터 : 1μF (전해, 1개), 2.2μF (전해, 1개), 330μF (전해, 2개)
4. 실험 방
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함수의 논리회로를 구성하여 그리고, 카르노맵을 사용하여 간략화시킨후, NOR-NOR로 회로를
구성하여라.
f(A,B,C,D)= SUM (0,4,8,9,10,11,12)
CD
AB
00
01
11
10
00
1
0
0
0
01
1
0
0
0
11
1
0
0
0
10
1
1
1
1
☞
f(A,B,C,D)=AB prime +C prime D prime
☞ NOR-NOR 회로 1. 실험목적
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회로의 성능이 어떻게 변화하는지를 탐구해보고 싶다. 또한, 실제 응용 사례에서 디코더와 조합 회로가 함께 작동하는 경우를 연구하여 실험 결과를 현실에 얼마나 적용할 수 있는지도 알아보고 싶다. 이러한 연구를 통해 디지털 회로 설계의
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디지털 소자의 입출력에 방해를 준다.
그림 3.4 3-상태 TTL 인버터/버퍼
입력
출력
G
A
Y
1
0
1
1
1
0
0
X
Hi-z
입력
출력
G
A
Y
1
0
0
1
1
1
0
X
Hi-z
위와는 반대로 제어 입력 G가 입력이 부정 G로 되어 있을 때 G입력이 0일 때 정상동작이고, 1일 때 출력이 부정
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논리를 만났을때 검증해볼 수 있는 장치가 될 수 있으므로 하나 만들어두어도
좋을 것이다. 위 그림의 회로에서 앞에서 소개한 Gate IC를 모두 실험해볼 수 있다. 단, 7404 NOT 게이트는 입출력핀이 달라 회로가 중복되므로 3번째 게이트 회로를
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1. 실험의 목적
⑴. 드-모르간의 정리를 실험적으로 증명하고, 논리회로의 간략화를 보인다.
⑵. 7-Segment의 원리와 숫자 표시기의 사용방법을 익힌다.
2. 사용기기 및 부품
∙디지털 실험장치 (Digital Experiment System)
∙TTL 7400 (quad 2-input NA
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